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使用 AFM-Raman

针尖增强光谱(TEOS)表征MoS2


(a) Curve Fitting of PL signal and (b) TEPL-shift image.

二硫化钼(MoS2)具有良好的激子复合特性、高载流子迁移率和低漏电流等优点,是一种在下一代光伏太阳能电池、光电电路和传感器很有前途的半导体过渡金属二硫化钼(TMD)二维纳米材料。

与石墨烯相比,二维(2D)TMDs的优点之一来自量子限域,使得间接直接带隙转变成为单个层数的函数。纳米尺度的表征是攻克单层MoS2纳米器件所必需的手段。

基于针尖下纳米区域信号放大的针尖增强光谱(TEOS)实现了这种纳米表征。在2D TMD应用案例中,针尖增强光致发光(TEPL)能够揭示亚微米尺寸薄片中发射光谱的变化。通过AFM成像、针尖增强拉曼光谱(TERS)和KPFM测量,可以同时获得互补的具有纳米空间分辨率的形貌、化学和电子结构信息。

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