XGT-5000 X射线分析显微镜

概要

独特的X光管,台式XGT - 5000系统允许高空间分辨率的X射线荧光分析-从1.2毫米到10微米。
无需任何样品制备或真空需要-样品仅仅是放置在样品室,然后在正常大气压力下分析。完全整合的软件控制样品移动,获取选择和数据分析(包括定性和定量分析,并组成图像生成)。从把样品放在样品祥中,只需几秒钟,开始数据抓取,借助直观的“point and click”选择分析位置。样品用同轴几何显象,删除视差。您绝对理由相信,您看到的正是您样品。
整套系统提供了两个X射线管,从而使用户能够简单地切换显微和宏观光束,可适用于一系列实验。这些光管的高强度的光斑传递确保了最低的数据获取时间。
单毛细管设计非常适合高强度的元素成像,甚至对于不平整样品同样有效。
通过自动采样扫描很容易获得XRFmapping,并提供样品下方第二次信号检测,能同时收集了X射线透射图像。这项技术的额外的结构信息有利于对兴趣区域的定位,或了解样本的内部结构。

特征

  • 最高的空间分辨率
    HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析,X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度超细的光斑,可以快速无损分析微细结构。
  • X射线透过像
    结合XRF成像, XGT–7000可抓取透视图像。这可被用来进行内部结构分析,定性那些眼睛不可见的区域。用垂直束窄扫描完成后,得到清晰穿透图像甚至非平面样品,如圆筒形部件。

 

  • 完整地分析整个样品

    该样品室可以容纳广泛的样本进行分析,从10 μm的微区功能的点分析,到10cmX10cm大面积分析。

  • 整合数据采集和分析的操作软件

    直观的软件可以轻松地控制仪器硬件,快速采样的可视化和选择测量区域,全面的数据分析。功能包括自动峰识别,定量测量, RGB图像生成,线剖面分析。


制造: HORIBA

規格

XGT-5000

Type I

Type II

XGT系统

高灵敏度类型(空间分解能:10μm、100μm)

-

标准类型(空间分解能:100μm)

○可添加10μm

-

透射X射线检测器

 

○ (可选项) ※1

光学像

全体光学像观察系统

○ (可选项)

○ (×1.5~×25)

详细光学像同轴观察系统

○ (×30) ※2

○ (×100)

从光学像中指定测定位置

通用规格

X射线管

最大50 kV、1 mA、Rh目的靶

荧光X射线检测器

高纯度Si检测器(Xerophy)

检测元素

Na~U(在试样大气中)

能量范围

0~40 keV

最大测定区域/最大试样尺寸

100 ㎜×100 ㎜ / 350 ㎜×400 ㎜×40 ㎜

OS

Windows XP

软件

●定性功能 自动定性、多点分析、匹配

●定量功能 FPM定量(不标准、1点校正) 标准曲线定量

●映像分析 指定来自透射像・荧光像的同时映像、虚假颜色、图像RGB合成、图像线分析、图像间运算、相分析(可选项)、对比度调整、透射像、荧光像、光学像的分析位置

●输出 CRT显示、打印机输出、文件输出、位图输出(可选项)、印刷版面设计(可选项)

电源

AC100 V、50/60 Hz、1.3 kVA以下

装置质量

280㎏

外形尺寸

2110(W)×1000(D)×1350(H) ㎜

周边机器
●真空泵●彩色打印机

●MO驱动(可选项)●CD-RW驱动(可选项)

●15英寸液晶监视器(可选项)●透射光照明系统(可选项)

※1 未带透射X射线检测器时,映像时也能显示透射X射线的窗口。
※2 将全体光学像观察系统添加到可选项中(×100)。

产品相关图及其它

外形尺寸图 (单位:㎜)

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