Nos Solutions en Ellipsométrie Spectroscopique

L’ellipsométrie est une technique optique d’analyse de surface, non-destructive, utilisée pour caractériser l’épaisseur et les constantes optiques (n,k) des couches minces. Les ellipsomètres spectroscopiques sont utilisés dans de nombreux domaines d’applications tels que les semiconducteurs, le photovoltaique, l’optoélectronique, les revêtements optiques et fonctionnels, la chimie de surface et les biotechnologies.

HORIBA Scientific développe et fabrique des ellipsomètres spectroscopiques pour la recherche et l’industrie depuis plus de 20 ans. Notre gamme comprend des ellipsomètres ex-situ, in-situ, en ligne et dédiés aux grandes surfaces, couvrant une large gamme spectrale du VUV au NIR, ainsi que de nombreux accessoires. Nos ellipsomètres sont pilotés par une plateforme logicielle commune, DeltaPsi 2.

Pour plus d’informations sur la caractérisation des couches minces par ellipsométrie, notre Académie d’Ellipsométrie fournit un tutorial, des webinars, des vidéos et un FAQ.

Spectroscopic Ellipsometers
In-Situ, In-Line and Large Area Ellipsometers
Ellipsometry Academy
Ellipsometry Application Notes
Ellipsometry Software
Ellipsometry Accessories

Ellipsometry for Organic Webinar