Notes d’Applications en Ellipsométrie

Les ellipsomètres spectroscopiques sont des instruments très précis dédiés à la mesure d’épaisseur et de constantes optiques (n,k) des empilements de couches minces. La détermination des épaisseurs se fait pour des couches nanométriques et micrométriques typiquement de quelques angstroms jusqu’à plusieurs dizaines de microns. Les ellipsomètres caractérisent également d’autres propriétés comme : la composition des matériaux, les structures anisotropes ou à gradient d’indice, la porosité, et la cristallinité des matériaux.

Semiconductor Application Notes

Largement utilisés dans le domaine des semiconducteurs et de l’industrie microélectronique, les ellipsomètres permettent de caractériser l’épaisseur des couches minces, les constantes optiques, le bandgap optique, la cristallinité des matériaux, les interfaces, etc sur un large domaine spectral du VUV au NIR. En savoir plus

Flat Panel Display Application Notes

Les ellipsomètres spectroscopiques sont largement utilisés dans les domaines des écrans plats et des écrans flexibles. Les ellipsomètres permettent de caractériser les épaisseurs des couches minces, les constantes optiques, l’uniformité des couches, la morphologie, etc sur une large gamme spectrale du FUV au NIR. En savoir plus

Material Science Application Notes

Idéal pour la caractérisation des couches minces pour la recherche et le développement de nouveaux matériaux, les ellipsomètres permettent de déterminer les épaisseurs d’un empilement de couches minces, les constantes optiques et encore beaucoup d’autres propriétés des matériaux pour les couches nanométriques et micrométriques.En savoir plus

Optical Coating Application Notes

Les ellipsomètres spectroscopiques sont des instruments de choix pour la caractérisation des couches optiques. Ils caractérisent avec grande précision les épaisseurs d’un empilement de couches minces avec une résolution à l’angstrom. Ils détectent les interfaces, les rugosités de surface, les gradients d’indice et l’anisotropie. L’ellipsométrie spectroscopique est une technique optique non destructive caractérisant les propriétés optiques sur une large gamme spectrale du VUV au NIR.En savoir plus

Photovoltaic Application Notes

Les ellipsomètres spectroscopiques sont largement utilisés pour la caractérisation des cellules solaires à couche mince. Les propriétés recherchées sont les épaisseurs, les constantes optiques, le bandgap, l’absorption et la cristallinté des matériaux.En savoir plus

Biotechnology & Surface Chemistry Application Notes

L’ellipsométrie spectroscopique est une technique de caractérisation non-destructive permettant l’analyse en temps réel des phénomènes d’interactions aux interfaces pour un échantillon solide ou dans un milieu liquide.En savoir plus

Optoelectronic Application Notes

Les ellipsomètres spectroscopiques sont utilisés pour la caractérisation des structures optoléctroniques telles que les LEDs. Les épaisseurs, les constantes optiques et la composition des alliages semiconducteurs sont les propriétés principales recherchées. Les ellipsomètres HORIBA Scientific intègrent un système de visualisation breveté pour la visualisation et le positionnement du spot de mesure sur la zone à caractériser. En savoir plus

Ellipsometry for Organic Webinar