Première Journée Nationale en Ellipsométrie

8 Décembre 2016, Palaiseau, France

l'ellipsométrie spectroscopique

En collaboration avec le LCP de l'Université de Lorraine, nous avons le plaisir de vous inviter à la première journée nationale en ellipsométrie spectroscopique, qui se tiendra le jeudi 8 décembre à Palaiseau (91).

Cette journée sera consacrée à une revue générale de l'utilisation de l'ellipsométrie spectroscopique dans les domaines de l'énergie, des polymères, des semiconducteurs, de la biologie, des nanomatériaux et des nanoparticules. L'état de l'art de l'ellipsométrie sera également abordé.

Ces thèmes seront exposés par nos présentateurs invités :

  • Pr En Naciri, LCP - Université de Lorraine
  • Dr Etcheberry, Institut Lavoisier - Université de Versailles
  • Dr Soppera, Institut des sciences des matériaux de Mulhouse
  • Dr Tortai, CNRS - Université Grenoble Alpes
  • Dr Garcia-Caurel, LPICM - Ecole Polytechnique Palaiseau
  • Dr Aguie, INRA Reims
  • Dr Ponsinet, CRPP Bordeaux

Une session posters aura lieu en fin de journée avec un prix pour le meilleur d'entre eux !

Nous comptons sur votre participation.

Programme de la Journée Nationale en Ellipsométrie

9h - Revue de l’ellipsométrie

  • L’état de l’art en l’ellipsométrie, Dr Garcia-Caurel, LPICM - Ecole Polytechnique Palaiseau
  • L’ellipsométrie dans le domaine de l’énergie, Dr Etcheberry, Institut Lavoisier - Université de Versailles
  • L’ellipsométrie dans le domaine des semiconducteurs, Dr Tortai, CNRS - Université Grenoble Alpes
  • L’ellipsométrie dans le domaine des nanomatériaux, Dr Ponsinet, CRPP Bordeaux
  • L’ellipsométrie dans le domaine des nanoparticules, Pr En Naciri, LCP - Université de Lorraine
  • L’ellipsométrie dans le domaine des polymères, Dr Soppera, Institut des sciences des matériaux de Mulhouse
  • L’ellipsométrie dans le domaine de la biologie, Dr Aguie, INRA Reims

18h – Remise du prix du meilleur poster

Une session posters, destinée aux étudiants, chercheurs et industriels sera organisée. Un prix pour le meilleur poster sera décerné par nos présentateurs invités.

Téléchargez le programme de la journée

Consignes aux auteurs pour la session poster

La date limite de soumission des résumés est étendue au 14 Novembre 2016. Merci de l'envoyer à ellipsometry.jyfr@horiba.com en utilisant le format suivant.

L’acceptation du poster devient définitive après l’inscription d’un des auteurs à la journée.

L’affichage du poster se fera le matin avant le début de la journée.

Format des posters : A0

Olivier SopperaDr Olivier Soppera
Olivier Soppera, 41 ans, est directeur de recherche CNRS à l’Institut de Sciences des Matériaux de Mulhouse (IS2M). Il est responsable d’un équipe qui développe des matériaux fonctionnels associés à des procédés de micro-nanofabrication originaux, basés sur des méthodes de photolithographie non-conventionnelles (lithographie interférométrie DUV, photopolymérisation assistée par plasmon, stéréolithographie biphotonique, …). Il est co-auteur de plus de 100 articles dans des journaux internationaux et 4 brevets.

 Dr Jean-Hervé Tortai
Jean-Hervé Tortai obtained his phD in physics in 2000 and joined the lithography team of the Laboratory of Technologies in Microelectronics in 2002 as a permanent researcher. Since then, he developed ellipsometry methodologies to monitor physio-chemistry properties of ultra-thin resist films in order to optimize lithography processes. He is also in charge of process modeling for E-Beam lithography to compensate for proximity effects. Last field he is involved in concerns elaboration of thin composite films by adding nanoparticles in it to tune final physical properties of the film. He is the author of 31 publications, attended to 29 international conferences and deposited 5 patents. >

Dr Virginie PonsinetDr Virginie Ponsinet
Virginie Ponsinet a étudié la physique et la chimie à Paris, puis s’est spécialisée dans les études structurales de nanomatériaux et systèmes colloïdaux par des techniques de microscopie et de diffusion des rayonnements. Recrutée au CNRS en 1995, elle a travaillé successivement au Laboratoire de Physique de la Matière Condensée du Collège de France à Paris, au Complex Fluids Laboratory, un laboratoire mixte entre le CNRS et la compagnie chimique Rhodia, situé à côté de Princeton, aux Etats-Unis, puis au Centre de Recherche Paul Pascal, à Bordeaux. Depuis quelques années, elle s’intéresse au lien entre nanostructure et propriétés optiques, en particulier pour des matériaux composites à base de polymères et de nanoparticules plasmoniques.

Dr Véronique Aguie-Beghin Dr Véronique Aguie-Beghin
PRESENT POSITION: Research Engineer INRA, Reims
AREAS OF INTEREST:

- Lignocellulosic polymers in nanostructured assemblies (films),

- Physico-chemical properties of nanostructured assemblies: water sorption properties, spectroscopic properties, mechanical properties of biopolymer films at nano and macroscopic scales,

- Interfacial properties of macromolecules at gas/liquid, liquid/liquid and liquid/solid interfaces: applications in: 1. “stability of the collar bubbles in Champagne” 2. From 2006 to today: Lignocellulosic polymers in a multi-layer network

Dr Enric Garcia-Caurel
Dr Enric Garcia- CaurelEnric Garcia-Caurel s’intéresse à la polarisation de la lumière et à ses applications depuis quinze ans. Il a utilisé la lumière polarisée pour étudier divers matériaux avancés, des résonances plasmoniques dans des matériaux hyperboliques, ou la métrologie optique de réseaux de diffraction pour la microélectronique. Il a aussi développé différents types d’ellipsomètres et ellipsomètres de Mueller, parmi lesquels on compte l’ellipsomètre « SmartSE » commercialisé par HORIBA, un ellipsomètre de Mueller infrarouge installé au synchrotron SOLEIL, ainsi que des scatteromètres imageurs polarimétriques. Il est auteur de plus de 60 publications dont 2 chapitres dans des ouvrages scientifiques et 3 brevets. Il travaille au laboratoire LPICM de l’Ecole polytechnique en tant qu’ingénieur chercheur.

Merci pour votre Participation à la Première Journée Nationale en Ellipsométrie

En collaboration avec le Laboratoire de Chimie et Physique de l'Université de Lorraine, la première journée nationale en ellipsométrie spectroscopique s'est tenue ce jeudi 8 décembre à Palaiseau, rassemblant 57 chercheurs et industriels venant de toute la France.

Cette journée, placée sous le thème de l'ellipsométrie appliquée, a fédéré une communauté de passionnés, menant des travaux de recherche de haut niveau dans un périmètre multidisciplinaire, des nanotechnologies à l'alimentaire.

Nous souhaitons vous remercier pour avoir investi cette journée avec beaucoup d'interactions et d'enthousiasme, avec une mention particulière à nos conférenciers et conférencières pour leurs exposés pédagogiques, ainsi qu'à nos auteurs pour leurs posters scientifiques. Ces contributions ont largement participé au succès de cette journée. Les trois lauréats du concours du meilleur poster scientifique sont :

  • 1er prix : Anais Loubat, ingénieur de recherche, IPVF
  • 2eme prix : Antoine Goullet, directeur de la recherche, Polytech Nantes
  • 3eme prix : Mickael Gilliot, enseignant chercheur, LISM, Université de Reims

En réponse à cet esprit communautaire autour de l'ellipsométrie, nous avons créé un groupe sur LinkedIn HORIBA Ellipsometry, où vous pourrez  échanger avec vos pairs. Riche de vos partages et de vos avis éclairés, ce groupe va devenir une niche d'informations, pour vous aider à progresser et obtenir des réponses à vos questions.

Conferences

Journée de l'ellipsometrie
L'état de l'art en ellipsométrie, Dr Enric Garcia-Caurel, LPICM, Ecole Polytechnique, Palaiseau
L'ellipsométrie dans le domaine des nanoparticules, Pr Aotmane En Naciri, LCP, Université de Lorraine
L'ellipsométrie dans le domaine des nanoparticules (applications), Yann Battie, LCP, Université de Lorraine
L'ellipsométrie dans le domaine de la biologie, Dr Véronique Aguié-Beghin, INRA, Reims
L'ellipsométrie dans le domaine des nanomatériaux, Dr Virginie Ponsinet, CRPP, Bordeaux
L'ellipsométrie dans le domaine des polymères, Dr Olivier Soppera, Institut des Sciences des Matériaux, Mulhouse
L'ellipsométrie dans le domaine des semiconducteurs, Dr Jean-Hervé Tortai, CNRS, Université Grenoble Alpes
L'ellipsométrie dans le domaine de l'énergie, Dr Arnaud Etcheberry, Institut Lavoisier, Université de Versailles

Session Posters

  • Journée de l'ellipsometrie

Lauréats du concours du meilleur poster scientifique

Journée de l'ellipsometrie
1er prix : Anais Loubat, ingénieur de rechercher, IPVF
2eme prix : Antoine Goullet, directeur de la recherche, Polytech Nantes
3eme prix : Mickael Gilliot, enseignant chercheur, LISM, Université de Reims Champagne-Ardenne
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