Ellipsomètres Spectroscopiques

Les ellipsomètres spectroscopiques mesurent avec grande précision les épaisseurs d'un empilement de couches minces et les constantes optiques (n,k). Ils apportent également de riches informations sur les matériaux constituant la couche telles que: l'anisotropie, les gradients d'indice, la morphologie, la composition, la présence d'interface ou encore la cristallinité.

Plus d’information

UVISEL Plus

Produits : UVISEL VIS : 210-880 nm | UVISEL FUV : 190-880 nm | UVISEL NIR : 245-2100 nm | UVISEL ER : 190-2100 nm |

Idéal pour la caractérisation des couches minces en recherche et développement.

UVISEL VUV

L’UVISEL 2 VUV est l’ellipsomètre le plus rapide pour la mesure sous vide des couches minces sur la gamme spectrale 147 – 2100 nm.

Auto SE, Simple Thin Film Measurement Tool

Visualisez vos échantillons et mesurez vos épaisseurs et constantes optiques en quelques clics!

« Avec l’Auto SE, la simplicité des analyses comme vous ne l’aviez jamais imaginée ! »