XRF

Analyseurs par fluorescence X

La fluorescence X (XRF) est une technique d'analyse élémentaire non destructive qui permet d'identifier les éléments contenus dans un matériau et d'en déterminer la concentration d'après les signaux de fluorescence X émis par ce matériau.

Parmi les analyseurs XRF, les analyseurs de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) sont les plus adaptés à l'analyse de dépistage d'une grande variété d'échantillons grâce à leur approche non destructive, à la détection d'éléments multiples, à une préparation simplifiée des échantillons et à un temps de mesure réduit.

HORIBA travaille sur les technologies à rayons X depuis 1956 et n'a jamais cessé depuis de développer des analyseurs XRF avec la méthode de dispersion d'énergie. Les analyseurs XRF d'HORIBA sont largement utilisés dans de nombreux domaines : piles à combustible, batteries lithium-ion, produits pharmaceutiques et d'autres domaines industriels pour détecter les corps étrangers et développer de nouveaux matériaux, ainsi qu'en astrogéologie, archéologie, médecine légale et autres domaines de recherche pour effectuer des analyses non destructives sur des échantillons précieux.

Micro-analyseurs/analyseurs d'imagerie

XGT-9000
XGT-9000

Microscope d'analyse X (Micro-XRF)

XGT-9000SL
XGT-9000SL

Microscope d'analyse X à très grande chambre

Analyseurs XRF de paillasse

MESA-50K
MESA-50K

Analyseur de fluorescence X

Actualités

The Hayabusa2 asteroid explorer and HORIBA

Read about HORIBA’s contributions to the exploration and analysis of the Ryugu asteroid.

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Application: Non-destructive Failure Analysis on Electronic Components Using the XGT-9000

μ-XRF is a non-destructive analytical technique which can inspect defects, even non-visible ones, inside a sample because of the high penetration of X-rays. This application note introduces failure analysis to detect ion migration, voids, and foreign matter on electronics using the XGT-9000, with key features of the vertical irradiation of a 10 μm probe and the simultaneous imaging of fluorescent X-rays and transmission X-rays.

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Application: Spectroscopic Analysis Explains the Mystery of Dragonfly Eye Beads

Spectroscopic analysis can reveal the origin of cultural heritages and the historical background at the time. This application note introduces research of a dragonfly eye bead found in a tomb in China. Using Raman spectroscopy and X-ray analytical microscopy, the bead was found to be from the Eastern Mediterranean region and the result suggested China had cultural and economic exchanges with them during that era.

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Applications

Les caractéristiques uniques et les hautes performances de la série XGT ont ouvert la technique micro-XRF à une grande variété d'applications où une analyse élémentaire rapide et précise peut résoudre des problèmes et mettre en lumière les complexités de la nature.

Technologie

HORIBA est expert en micro-analyse de fluorescence X (XRF) et peut proposer des solutions haute performance pour l'analyse XRF à résolution spatiale avec des tailles de point d'analyse de seulement 10 µm.

 

Ressources

Découvrez nos nombreuses ressources pour les analyseurs de fluorescence X. Nous proposons notamment des études de cas, des vidéos, des webinaires, des profils et des livres électroniques pour vous permettre de mieux comprendre les dernières technologies et leurs applications concrètes.

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