
박막 분석 (Thin Film Metrology)
초박막·다층막등 폭넓은 application에 대응하는 HORIBA JOBIN YVON의 elliposometer
광학측정에 의한 막두께는 비파괴 비접촉이라고 하는 큰 특징을 가지고 있습니다.
HORIBA JOBIN YVON에서는 다양한 제품을 제공하고 있습니다.
라인업
Versatile spectroscopic ellipsometer delivering research grade performance at an economical price.
분광 위상 변조 Ellipsometer (SPME) UVISEL 는 어떤 기계적인 운동도 없이 편광을 변조하기 위하여 photoelastic 장치를 내장한 system입니다. 위상 변조 기술은 실험적으로 다양성과 성능면에서 중요한 이점을 제공합니다. 전통적인 ellipsometers와 비교해서 UVISEL 분광 ellipsometer는 얇은 박막 Sample과 낮은 인덱스...
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