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固体粒子数測定装置 MEXA-2000SPCS
概要
MEXA-2000SPCSシリーズは、エンジンから排出される固体状粒子のうち
一定の粒径範囲の粒子数(PN)をリアルタイムに計測する装置です。
各国のPN最新規制の要求に適合し、認証・研究開発から性能評価まで、あらゆる試験のご要望にお応えします。
■ラインナップ
- 最新PN規制対応※1の認証試験ツール
MEXA-2000/2200SPCS - 高圧ダイレクトサンプリング対応の研究開発ツール
MEXA-2100/2300SPCS - GTR No.15対応のSPN10※2固体粒子数測定ツール New Lineup
MEXA-2010/2110/2210/2310SPCS - Dual CPC仕様によるSPN23、SPN10同時計測が可能※3
MEXA-2000/2010, 2100/2110, 2200/2210, 2300/2310SPCS
※1:対応規制の詳細については、弊社までお問い合わせください。
※2:SPN10:粒子径10nm以上の固体粒子数
※3:詳細については、弊社までお問い合わせください。
型式 | MEXA-2000SPCS | MEXA-2100SPCS | MEXA-2200SPCS | MEXA-2300SPCS |
---|---|---|---|---|
測定方法 | フルトンネル | フルトンネル | フルトンネル | フルトンネル |
特長
コンパクト設計
・ラボでの設置・移動が容易
・日常の計測に必要な機能をすべて基本ユニットに搭載し、
省スペースを実現
→サイズを確認する
高性能サンプリングシステム
サンプル入口圧など外乱要因の影響を受けにくい、高精度の希釈器を採用。
豊富なオプションユニット
基本ユニットに各種オプションユニットを組み合わせることにより、
アプリケーションの幅がさらに広がります。
また、規制で要求される性能チェックのためのユニットもご用意しています。
- 日常計測
ユニット型式 | 機能 | 2000 | 2100 | 2200 | 2300 |
---|---|---|---|---|---|
サイクロンユニット(CYU)※3 | 外付けサイクロン | ○ | 内蔵 | ○ | 内蔵 |
サンプルリターンユニット | フルトンネルへの | ○ | × | × | × |
クーラーユニット※4 | 高温環境下での | ○ | ○ | ○ | ○ |
※3:MEXA-2000/2200SPCSでは、フルトンネル側に設置する傘付きプローブ
または外付サイクロンを選択してください。
※4:19インチラック搭載
- 性能評価
ユニット型式 | 機能 | 2000 | 2100 | 2200 | 2300 |
---|---|---|---|---|---|
ダイリューションファクタチェッカ(DFC) | ダイリューションファクタの確認・流量校正 | ○ | ○ | ○ | ○ |
直線性チェッカ(LCU) | 直線性確認・ | ○ | ○ | ○ | ○ |
揮発性粒子発生器(VGU) | 揮発性粒子除去効率の | ○ | ○ | ○ | ○ |
高精度希釈
耐久性に優れた、HORIBA独自のワイドレンジ連続希釈器(WRCD:特許出願済)使用
粒子数計測の専用システム
粒子計測データをはじめ、温度モニタ値やアナログ入力などのロギング機能
あり。LANホストインターフェースにより上位PCからの制御も可能。
製造会社: HORIBA
仕様
型 式 | MEXA‑2000SPCS | MEXA‑2100SPCS |
---|---|---|
対応規制*1 | GTR No.15, Amendment 6 | - |
測定原理 | レーザ散乱式凝縮粒子カウンタ(CPC) | |
検出粒径 | 粒子径23nmにて計数効率50±12%、粒子径41nmにて計数効率>90% | |
測定成分・ | 固体粒子状物質の粒子数 0–10000個/cm3~0–50000個/cm3 | |
サンプリン | 52℃以下 | 最高350℃ |
希釈サンプル温度 | 1 次希釈器(PND1):191℃±10℃ | サイクロン: 47 °C ± 5 °C |
ダイリューションファクタ設定範囲 | 1 次希釈器(PND1):10~200*3 | DSU内希釈器:10 |
リダクション | 0.95<fr(30nm)/fr(100nm)<1.3 | |
揮発性粒子 | >99.0%(粒径30nmかつ濃度10000個/cm3以上のC40粒子にて) | |
希釈精度 | 設定値の±10%以内*5 | |
設置環境 | 単体使用時(標準):温度5℃~30℃,相対湿度80%以下 | |
電 源 | AC200/220/230/240V(±10%、ただし250V以下)、50/60Hz(±1.0Hz)、単相(注文時に指定のこと) | |
電源容量 | 本体:最大2.3kVA | 本体:最大2.5kVA |
外形寸法(突起物を除く)/質量 | ||
基本ユニット(トランスファ管・ | 434(W)×731(D)×637(H)mm | 434(W)×845(D)×637(H)mm |
オプション | CYU:290(W)×146(D)×236(H)mm*6約4kg |
型 式 | MEXA‑2200SPCS | MEXA‑2300SPCS |
---|---|---|
対応規制*1 | GTR No.15, Amendment 6 | -*2 |
測定原理 | レーザ散乱式凝縮粒子カウンタ(CPC) | |
検出粒径 | 粒子径23nmにて計数効率50±12%、粒子径41nmにて計数効率>90% | |
測定成分・ | 固体粒子状物質の粒子数 0–10000個/cm3~0–50000個/cm3 | |
サンプリン | 52℃以下 | 最高350℃ |
希釈サンプル温度 | 1 次希釈器(PND1):191℃±10℃ | サイクロン: 47 °C ± 5 °C |
ダイリューションファクタ設定範囲 | 1 次希釈器(PND1):10~200*3 | DSU内希釈器:10 |
リダクションファクタ | 0.95<fr(30nm)/fr(100nm)<1.3 | |
揮発性粒子 | >99.0%(粒径30nmかつ濃度10000個/cm3以上のC40粒子にて) | |
希釈精度 | 設定値の±10%以内*5 | |
設置環境 | 単体使用時(標準):温度5℃~30℃,相対湿度80%以下 | |
電 源 | AC200/220/230/240V(±10%、ただし250V以下)、50/60Hz(±1.0Hz)、単相(注文時に指定のこと) | |
電源容量 | 本体:最大2.4kVA | 本体:最大2.6kVA |
外形寸法(突起物を除く)/質量 | ||
基本ユニット | 434(W)×910(D)×637(H)mm | 434(W)×910(D)×637(H)mm |
オプション | CYU:290(W)×146(D)×236(H)mm *6約4kg |
※1:対応規制の詳細については、弊社までお問い合わせください。
※2:UN/ECE R49に準拠した測定も可能です。詳細については別途お問い合わせください。
※3:希釈後の粒子数濃度が測定レンジ内になるように希釈比を設定してください。
※4:本装置のサンプル温度条件は「DSU本体が350℃以下となる範囲」です。
詳細については、弊社までお問い合わせください。
※5:スパンガスを用いた希釈比チェックにおける希釈精度です。
※6:寸法は顧客仕様により異なります。