
| Nazwa produktu | Analizator cząstek stałych z fluorescencją rentgenowską do pracy ciągłej |
|---|---|
| Model | PX-375 |
| Obiekt mierzony | Pył zawieszony (PM10, PM2,5, TSP) |
| Zakres pomiaru | Stężenie masy cząstek stałych i stężenie pierwiastków |
Wspólny
| Przepływ | 16,7 l/min |
|---|---|
| Pompa do pobierania próbek | Pompa montowana zewnętrznie |
| Taśma filtracyjna | Filtr tkaninowy PTFE bez włókniny |
| Interwał punktów na taśmie | Możliwość wyboru 20 / 25 / 50 / 100 mm |
| Częstotliwość wymiany taśmy filtracyjnej | Około 5 miesięcy (w przypadku odstępu między punktami 20 mm i 1-godzinnego czasu pobierania próbek) |
| Temperatura otoczenia podczas pracy | 10˚C~30˚C |
| Wilgotność względna | 0~80% RH bez kondensacji |
| Wysokość | 1000m lub mniej |
| Zasilanie | Prąd zmienny 100 V~240 V ±10%, 50/60 Hz ±1% |
| Pobór mocy | Około 400VA |
| Wymiar zewnętrzny | 430 mm (szer.) × 550 mm (gł.) × 285 mm (wys.) (bez rury do pobierania próbek i głowicy pomiarowej) |
| Waga | Approx. 49kg |
| Wyjście danych | Plik CSV (średnia masa PM i stężenie pierwiastków) |
| Połączenie zewnętrzne | Ethernet TM, USB, RS-232C* (opcja) |
*Prosimy o osobną konsultację w sprawie komunikacji i konfiguracji instrumentu.
Jednostka analizatora masy
| Metoda pomiaru | Tłumienie promieniowania beta |
|---|---|
| PM 10 | Wlot żaluzjowy US EPA PM10 |
| PM2.5 | Cyklon BGI VSCC TM |
| TSP | Wlot TSP |
| Zakres pomiaru | 0~200 / 500 / 1000 μg/ m3 |
| Powtarzalność | ±2% (w stosunku do wartości referencyjnej folii) |
| Dryf zakresu | ±3% (24h) |
| Najniższa granica wykrywalności (2σ) | ±4 μg/ m3 (24h) |
| Cykl pobierania próbek i pomiaru | 0,5 / 1 / 2 / 3 / 4 / 6 / 8 / 12 / 24 godziny |
Jednostka analizatora pierwiastków
| Metoda pomiaru | Spektrometria fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii |
|---|---|
| Wykrywalne elementy | Zobacz Tabelę 1 „Wykrywalne pierwiastki”. 32 standardowe parametry: Al, Si, S, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Pb, Ga, Ge, Y, Pd, Ag, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ce, Bi |
| Główny filtr rentgenowski | Automatyczne przełączanie na metale lekkie/metale ciężkie |
| Napięcie lampy | Automatyczne przełączanie na 15kV/50kV |
| Detektor | SDD (Silicon Drift Detector) |
| Prókkowanie obrazu | Kamera CMOS |
| Najniższa granica wykrywalności (2σ) | Zobacz Tabelę 2 „Najniższa granica wykrywalności (przykład)” |
| Zakres pomiaru | zależy od czasu pomiaru |
| Czas analizy | Możliwość wyboru 100 / 200 / 500 / 1000 / 2000 / 5000 / 10000s |
| Materiał kalibracyjny do pomiaru intensywności promieniowania rentgenowskiego dla parametru standardowego | NIST SRM 2783, inne materiały (opcja) |
| Funkcje bezpieczeństwa dla promieni rentgenowskich | Wewnętrzny system blokowania Przełącznik kluczykowy Kontrolka rentgenowska |
Czarne cząsteczki
| Metoda pomiaru | Spektrometria fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii |
|---|---|
| Obiekt mierzony | Cząsteczki stałe o czarnym kolorze |
| Detektor | Kamera CMOS |
| Źródło światła | LED |
| Zakres pomiaru BP | 0-200 |
| Najniższa granica wykrywalności | <5 wartość BP |
| Dryf zakresu | Wartość BP: ±2% (24 godz.) |
| Interwał punktów na taśmie | Tylko 25 mm |
| Cykl pobierania próbek | Postępuj zgodnie z ustawieniami pomiaru masy i pierwiastków |
| Powtarzalność | ±2% pełnej skali (typowo), ±3% pełnej skali (maks.) |
| Materiał kalibracyjny | Filtr o neutralnej gęstości |





