• Skip to navigation
  • Skip to content
  • Главная
  • О компании
  • Акционерам
  • Корпоративные новости
  • Публикации
  • Социальная ответственность
  • Работа
  • Контакты
HORIBA
Country/Region Selection
Россия | Russia
Site search
  • Автомобильные испытательные системы
  • Производственные процессы и окружающая среда
  • Медицина
  • Полупроводники
  • Научные исследования
  • Список продуктов
  • Положения и условия
  • Политика безопасности
  • Доступность
  • Карта сайта
  • Поиск
Home » Карта сайта

Карта сайта

Карта сайта
  • Главная
  • О компании
    • Основные факты
    • Послание Президента
    • Корпоративная философия
    • Корпоративная культура
    • Техническая экспертиза
      • Технические публикации
      • Премия имени Масао Хориба
    • История
      • 1945–1960-е гг.
      • 1970-е гг.
      • 1980-е гг.
      • 1990-е гг.
      • 2000-е гг.
    • Представительства HORIBA в мире
  • Акционерам
    • To Our Stakeholders
    • Business Overview
      • Business Segments
        • Automotive Test Systems
        • Analytical Instruments & Systems
        • Medical Diagnostic Instruments & Systems
        • Semiconductor Instruments & Systems
        • Scientific Instruments & Systems
      • Regional Segments
      • Products Overview
        • Automotive Test Systems
        • Analytical Instruments & Systems
        • Medical Diagnostics Instruments & Systems
        • Semiconductor Instruments & Systems
        • Scientific Instruments & Systems
      • Mid-Long Term Management Plan
        • One Company Multiplication
        • Development of Invisible Values
        • Technical Capabilities
    • Financial Information
    • IR News
    • IR Library
      • Financial Statements
        • Fiscal Year 2011
        • Fiscal Year 2011
        • Fiscal Year 2010
        • Fiscal Year 2009
        • Fiscal Year 2008
        • Fiscal Year 2007
        • Fiscal Year 12/2006
        • Fiscal Year 3/2006
        • Fiscal Year 2005
        • Fiscal Year 2004
        • Fiscal Year 2003
        • Fiscal Year 2002
        • Fiscal Year 2001
        • Fiscal Year 2000
        • Fiscal Year 1999
        • Fiscal Year 1998
        • Fiscal Year 1997
      • Annual Reports
    • IR Calendar
    • Stock Information
    • Board of Directors
    • Corporate Governance
    • IR Contact
    • Disclaimer
  • Корпоративные новости
    • Новости
    • Cобытия
  • Публикации
    • Technical Journal "Readout"
      • Contact Form
  • Социальная ответственность
    • Политика
    • Environmental, Quality and Safety Policy
    • Интегрированная система управления
    • Образовательные программы
      • Event announcement
    • CSR отчеты
      • PDF Preview
        • 2011
      • Request for the Latest CSR Report
    • Отношения с инвесторами
    • Global Compact
  • Работа
  • Автомобильные испытательные системы
    • Продукты
      • Системы измерения эмиссии
        • Аналитические системы
          • Стандартная эмиссия
          • Твердые частицы
          • Анализаторы специального назначения
        • Бортовые системы
        • Портативные анализаторы эмиссии
        • Системы разбавления и пробоотбора
        • Прочие системы
      • Мехатронные системы
        • Системы для испытаний двигателей
        • Системы для испытаний трансмиссии
        • Системы для испытаний тормозов
        • Системы для испытаний транспортных средств
        • Аэродинамические весы
      • Системы автоматизации испытаний
        • Системы испытания эмиссии транспортных средств
        • Система автоматизации STARS
        • Средства анализа и оценки
    • Сервис и техническая поддержка
      • Техническое обслуживание
      • Калибровка
      • Ремонт динамометра
      • Запасные части
      • Решение проблем в местах эксплуатации
      • Программная поддержка для систем автоматизации испытаний
        • Служба помощи по системе STARS
        • Служба помощи по системе HEAD
      • Служба поддержки ЭМС-анализа
      • Обучение
    • Испытания по контракту
      • Услуги
      • Испытания динамометра
      • Структурные испытания
    • Новости и события
      • Новости
      • События
  • Производственные процессы и окружающая среда
    • Продукты
      • Атмосферный воздух
      • Сжигание
        • Непрерывный мониторинг дымовых газов
        • Переносные системы
      • Контроль процессов
        • Исследовательские системы
      • Обработка воды
        • Природная вода
      • Контроль качества воды
        • for Pharmaceutical, Food & Cosmetics
        • Портативные приборы
        • Приборы для лабораторий
      • Системы
        • Полная системная интеграция
        • Программное обеспечение
      • Gloss Checker
        • Contact us
      • Environmental Radiation Monitor
    • Новости и События
      • Новости
      • События
    • О Компании
    • Вакансии
      • USA
        • Manufacturers Reps Wanted
  • Медицина
    • Products
      • Hematology
        • ABX Pentra DX-DF 120
        • ABX Pentra 80
        • ABX Pentra 60
        • ABX Micros
      • Clinical Chemistry
        • ABX Pentra 400
    • Technologies
      • DHSS
      • MDSS
      • Reticulocyte Analysis
      • CBC + CRP
      • SPS
      • Automatic Rerun
    • Customer Support
      • Documentation Database
      • Email support
      • Quality Control Program
      • Scientific References
        • Articles
    • News & Events
      • News
    • About HORIBA Medical
      • International Presence
      • Exceptional Growth
      • A Worldwide Industrial Expert
        • Virtual Tour
      • Corporate Movie
  • Полупроводники
    • Products
      • Product Lines
        • Semiconductor Manufacturing Process Monitor
          • Film Thickness Monitor
          • End-point Monitor
          • Residual Gas Monitor
        • Gas Concentration Monitor
          • Process Gas Monitor
        • Chemical Solution Concentration Monitor
          • Chemical Solution Concentration Monitor
          • HF Monitor
          • Resistivity Meter
          • Conductivity Meter
        • Ultra-pure Water Monitor
        • Particle Detection SystemRetic
          • Reticle/Mask Particle Detection System
          • FPD Mask Particle Detection System
          • Automatic Particle Blower
        • Thin Film Analyzer
          • Wafer Thin Film Analyzer
          • FPD Thin Film Analyzer
        • Mass Flow Controller
          • Mass Flow Module
          • Mass Flow Controller
          • Mass Flow Meter
          • Liquid Mass Flow Controller
          • Liquid Mass Flow Meter
          • High Precision Film Flow Meter
        • Liquid Source Vaporization System
          • Vaporization System
          • Auto Refill System
        • Pressure Regulator
          • Pressure Controller
          • Exhaust Control System
        • Accessories
      • Processes
        • Semiconductor Process
          • Material Analysis
          • Lithography Process
          • DI Water Analysis (Wet Process)
          • Material Analysis (Particulates Analysis & Defect Analysis)
          • Chemical Analysis (Wet Process)
          • Gas Control/Analysis (Dry Process)
          • Process Monitoring (Dry Process)
          • Thin Film Control/Analysis
          • CMP Process
          • Drain Water Analysis
        • FPD Process
          • DI Water Analysis (Wet Process)
          • Material Analysis (Particulates Analysis & Defect Analysis)
          • Chemical Analysis (Wet Process)
          • Gas Control/Analysis (Dry Process)
          • Process Monitoring (Dry Process)
          • Plasma Process Control
          • Drain Water Analysis
          • Thin Film Analysis
        • Photovoltaic Process
          • Crystalline Silicon
          • Thin Film Silicon
          • Compound CIGS
          • Organic Dye-sensitized
          • Impurity Control
          • Material Analysis
          • DI Water Analysis
          • Thin Film Control/Analysis
          • Chemical Analysis
          • Gas Control/Analysis/Process Monitoring
      • Measuring Object
        • SC-1
        • SC-2
        • BHF
        • SPM
        • FPM
        • HF/HNO3
        • TMAH/H2O2
        • Components of various chemicals
        • pH
        • TMAH
        • HF
        • HF/HCl
        • HF/HCl/NH3
        • Resistivity
        • Conductivity
        • Silica
        • Reticle/Mask Particle
        • Various kinds of process gases
        • Film thickness
        • Etching end-point
        • Residual gas
        • Gas flow rate
        • Liquid source flow rate
        • Liquid source vaporization flow rate
        • Gas pressure
      • Measurement Method
        • Absorption spectroscopic method
        • Glass electrode method
        • Conductivity measurement and concentration conversion
        • Electromagnetic induction method
        • Fluoride ion electrode method
        • 2-electrode method
        • 4-electrode method
        • Laser scattering method
        • Molybdenum blue method and absorptiometric method
        • Blowing method
        • FTIR
        • CRDS
        • NDIR
        • Spectroscopic ellipsometry
        • Optical interferometric method
        • Plasma emission analysis method
        • Quadrupole mass spectrometry
        • Mass flow measurement Differential pressure detection method
        • Mass flow measurement Thermal sensor method
        • Soap film detection method
      • Product Name
        • Real Time Interferometric Film Thickness Monitor
        • Plasma Diagnosis Endpoint Monitor
        • FTIR Gas Analyzer
        • SC-1 Monitor
        • SC-2 Monitor
        • BHF Monitor
        • SPM Monitor
        • FPM Monitor
        • HF.HNO3 Monitor
        • TMAH/H2O2 Monitor
        • Fiber Optic Type Chemical Solution Concentration Monitor
        • Hydrofluoric Acid Monitor
        • Reticle/Mask Particle Detection System
        • FPD Mask Particle Detection System
        • Automatic Particle Blower
        • Full Automatic Ultra Thin Film Analyzer
        • Spectroscopic Ellipsometer
        • UV Visible Spectroscopic Ellipsometer
        • Full Automatic Film Analyzer
        • Trace HF Concentration Monitor
        • HF Concentration Monitor
        • Low Concentration HF/HCl/NH3 Monitor
        • TMAH Conductivity Monitor
        • Carcon Sensor Conductivity Meter (High Concentration Type)
        • Conductivity Meter (High Concentration Type)
        • Carbon Sensor Resistivity Meter
        • 2-channel Carbon Sensor Resistivity Meter
        • High Sensitivity Silica Monitor
        • Industrial pH Meter
        • Mass Flow Module
        • Digital Mass Flow Controller
        • Digital Mass Flow Controller (for High Temperature Application)
        • Analog Mass Flow Controller
        • Analog Mass Flow Controller (for High Temperature Application)
        • Mass Flow Controller (Low Cost Type)
        • Digital Mass Flow Meter
        • Digital Mass Flow Meter (for High Temperature Application)
        • Analog Mass Flow Meter (for High Temperature Application)
        • Analog Mass Flow Meter
        • Liquid Mass Flow Controller
        • Liquid Mass Flow Meter
        • High-precision Flow Rate Meter for Precision Film
        • Direct Injection System
        • Compact Baking System
        • Liquid Source Vaporization System
        • Liquid Auto Refill System
        • Digital Automatic Pressure Regulator
        • Automatic Pressure Regulator
        • Piezo Actuator Valves
        • Exhaust Pressure Controller
        • Residual Gas Analyzer
    • News & Events
      • News
      • Events
    • About Us
  • Научные исследования
    • Продукция
      • Атомно-эмиссионная спектроскопия
        • ИСП-ОЭС
        • Тлеющий разряд
          • Domains of applications
          • Problem solver
          • Pulsed RF GDOES instrumentation
            • Detection
            • Source
          • Instruments
          • Software
          • Accessories
          • Cooperations
        • Стандартные образцы
        • Service Request
        • Training
        • Application Notes
        • Webinar
        • Downloads
        • User Club
        • 6th GD Day
        • Запрос информации
      • Катодолюминесценция
        • Серия CLUE
        • Сферы применения
        • Программное обеспечение
        • Новости и события
        • Сервис и поддержка
        • Запрос информации
      • Детекторы
      • Элементные анализаторы
        • Углерод/ Сера
        • Кислород/Азот & Водород
        • Сера в нефти
          • SLFA Newsletter Signup
        • Micro-XRF Analyzer
        • WEEE/RoHS/ELV
        • Service Request
        • Training
        • Application Notes
        • Downloads
        • User Club
        • Запрос информации
      • Эллипсометры
        • Спектроскопические
        • In-Situ и In-Line
        • Quality Control
        • Large Area Thin Film Metrology Systems
        • Spectroscopic Ellipsometry Software
        • Support
          • Service & Application Support
            • E-support of your sample modeling
          • Training Center
          • Ellipsometer User Club
            • Ellipsometry User Club Newsletters
        • Core Technologies
          • Basic Principles
          • Market & Industries
            • Functional Thin Film Coatings
            • Photovoltaic Devices
            • Electronic Semiconductor Devices
            • Flat Panel Display
            • Optoelectronic Devices
            • Biological and Chemical Engineering
          • What are the range of thin film applications
            • Overview
            • Thin Film Thickness
            • Surface Measurement
            • Interface Measurement
            • Optical Properties
            • Thin Film and Material Properties
          • What are the Range of Phase Modulation Technology
            • Overview of Phase Modulation Technology
            • Overview of Phase Modulation Technology Page 2
            • Overview of Phase Modulation Technology Page 3
            • Overview of Phase Modulation Technology Page 4
            • Overview of Phase Modulation Technology Page 5
        • News
        • About Us
        • Application Notes
        • Дополнительная информация
        • Request Information
        • Limited Time Promotional Equipment
      • Флуоресцентная спектроскопия
        • Стабильные состояния
        • Время жизни
          • TCSPC Components
        • Нанотехнологии
        • Microscopy & Mapping
        • Accessories
        • Программное обеспечение
        • Slideshows
        • Application Notes
        • Downloads
        • Запрос информации
      • Судебная экспертиза
        • Light Sources
        • RUVIS Applications
        • Digital Imaging Applications
        • AFIS & APIS
        • Analytical/Microscopy
        • Analytical XRF Microscope
        • Training
        • Downloads
        • Запрос информации
      • Тлеющий разряд
      • Дифракционные решетки
        • For Industrial Applications
          • Aberration Corrected Concave Spectrograph (Flat Field) Gratings
          • Aberration Corrected Monochromator Gratings (Type IV)
          • Holographic Concave Roland Circle Gratings
          • Holographic Plane Gratings
          • Blazed Holographic Plane Gratings
          • Ruled Plane Gratings
        • For Scientific Applications
          • Laser Pulse Compression
          • Vacuum UV and Soft X-Ray Applications
          • Astronomy and Space Experiment
          • Transmission
          • Dye Laser
        • Systems & Spectroscopy Solutions
          • Industrial Spectroscopy Solutions
          • Research Spectroscopy Solutions
        • Definitions
        • News
        • Downloads
        • Contact Us
        • Запрос информации
        • CCD and PDA Spectrometers
        • Miniature Spectrographs
        • Monochromators
        • Raman miniature systems and OEM components for Raman
        • Large research spectrometers
      • Hyperspectral Imaging
      • Лазеры
      • Определение характеристик материала
        • На страницу отдела Рамановской спектроскопии
        • Фотолюминесценция
        • Fluorescence
        • Эллипсометрия
        • Particle Characterization
        • Микро-РФА
      • Микроанализ
        • Raman Microscopy
        • Fluorescence Microscopy
        • Particle Characterization
        • Micro-XRF
        • Micro-PL
      • OEM компоненты и системы
        • CCD & PDA Спектрометры
        • Миниатюрные спектрографы
        • OEM Miniature Raman Systems
        • Монохроматоры
        • ПЗС и Диодные матрицы
        • Дифракционные решетки
        • Изготовление на заказ
        • Application Notes
        • Downloads
        • Contact Us
        • Запрос информации
        • Large Research Spectrometers
        • LN2 & 4-Stage TE Cooled CCDs
      • Оптическая спектроскопия
        • Спектрометры и монохроматоры
          • Legacy Monochromators
        • Детекторы
          • Одноканальные
          • Многоканальные
            • CCDs
            • InGaAs
            • ICCDs
          • Low Light Imaging Cameras
          • CCD Upgrade
        • Контроллеры
        • Модульные Рамановские системы
        • Software
          • SynerJY
          • LabVIEW
        • Sources
        • Аксессуары
        • Service & Support
        • Newsletter
          • OSD Newsletter Signup
        • Application Notes
        • Downloads
        • Запрос информации
        • Miniature CCD Spectrometers
        • Mini Raman Spectrometers
        • Miniature Spectrographs
      • Анализ частиц
        • Particle Size Analysis
        • Applications
          • Abrasives
          • Cement
          • Ceramics & Abrasives
          • CMP
          • Colloids
            • Colloidal Silica
          • Cosmetics
          • Food & Beverage
          • Frac Sand
          • Metal Powder
          • Nanoparticles
            • Metal Nanoparticles
            • Gold Nanoparticles
          • Nutraceuticals
          • Pharmaceutical Aerosols
          • Pharmaceuticals
          • Protein
          • Protein Aggregation
          • Sugar Spheres
          • Pigments & Inks
          • Polymers & Plastics
          • Road Materials
          • Particle Size Reduction
          • Soils & Sediments
        • Education
          • LA-950
            • Method Development
              • Optimizing Ultrasonic Dispersion with the Method Expert
              • Simplify Choosing a Refractive Index with the Method Expert
          • General Information
            • System Verification
              • Laser Diffraction Verification
          • SZ-100
            • Particle Size by Dynamic Light Scattering Resources
              • What is Z-Average?
              • Top 10 Lists
            • Zeta Potential by Electrophoretic Light Scattering
              • Top 10 Lists
        • Technology
          • Dynamic Image Analysis
          • Dynamic Light Scattering
          • Laser Diffraction
            • Fundamentals of Diffraction
          • Surface Area
          • Zeta Potential
        • Bibliography
          • Book Reviews
            • Particle Size Measurements by Henk Merkus
          • LA-300
          • LA-910
          • LA-920
          • LA-930
          • LA-950
          • LB-550
          • Other
        • Запрос информации
        • Download Center
          • Analytical Test Methods
          • Application Data Sheets
          • Application List
          • Brochures
          • External Articles
          • Instruction Manuals
          • Software Downloads
          • Software Updates
          • Technical Background
          • Technical Notes
          • Webinars
            • AP021
            • TE018
            • AP020
            • TE017
            • AP019
            • TE016
            • AP018
            • AP017
            • AP016
            • TR010
            • AP015
            • TR009
            • AP014
            • TE015
            • TE014
            • TE013
            • TE012
            • AP012
            • AP011
            • AP013
            • TE011
            • TE009
            • TE010
            • TR008
          • White Papers
          • Registration
      • Анализатор нефти
      • Фотолюминесценция
        • PL Series
        • PL Mapper
        • Low temperature Photoluminescence (PL)
        • PL - Sub Micron
        • III-V Semiconductor Devices
        • PL - Nanostructures Mapping
      • Производственный контроль
        • Plasma Analysis
        • Endpoint Detection
          • User Guide
        • Multi-Sensor Platform
        • Thin Film Thickness
        • Application Notes
        • Downloads
        • Запрос информации
      • Рамановская спектроскопия
        • Рамановские системы
          • Analytical Raman
          • Аналитика/Микроскопия
          • Hybrid Raman
            • Raman-FTIR
              • Applications
            • Raman-PL
              • Applications
              • Cryo
            • Raman-AFM
              • Typical Configurations
              • TERS
              • Applications
            • Raman-Epifluorescence
          • QC & Process Raman
          • Modular Raman
          • OEM Miniature Raman
        • Fast Raman Imaging
          • LineScan
          • SWIFT
          • DuoScan
            • How DuoScan works
            • DuoScan application examples
          • Nanoscale Raman Imaging
            • Sub-micron
            • Nanoscale
          • Image Gallery
            • SWCNT
            • Bovine Embryo
            • Holographic Gratings Inscribed on Polymer Thin Films
            • Polystyrene Beads on Si plate
            • Thin section of wood cells
            • Rare Earth Doped LiNb03 based 3D Photonic Crystal
            • CNT
            • Femtosecond laser written waveguide on a Nd: YAG ceramic sample
        • Application Notes
          • Application Notes & Articles
          • Application Laboratories
        • Tutorial & FAQs
        • Software
          • LabSpec Functionality
          • Software Collaboration
        • Accessories
        • News & Events
        • Service and Applications
        • Downloads
        • Запрос информации
      • Сера в нефти
      • Визуализация поверхностного плазмон-резонанса (SPRi)
        • SPRi Platform
          • SPRi-Biochip
          • Surface Chemistry
          • Spotting Systems
          • SPRi Systems
          • Software
        • SPRi Technology
        • Movie
        • Storyboard
        • MS Coupling
        • Application Notes & Articles
        • News & Events
        • Запрос информации
      • Вакуумная УФ спектроскопия
        • Монохроматоры&Спектрографы
        • Синхротронное излучение
        • Зеркала и дифракционные решетки
        • Щели
        • Application Notes
        • Downloads
        • Contact Us
        • Запрос информации
      • Контроль качества воды
        • pH Meters
        • Ion Meters
        • Dissolved Oxygen Meters
        • Conductivity Meters
      • Рентгено-флуоресцентный анализ (РФА)
        • Микро РФА
        • Соответствие нормам WEEE/RoHS/ELV
        • Sulfur-in-Oil Analyzer
        • SLICE Database
        • XRF Tutorial
        • Image Gallery
        • Application Notes
        • Downloads
        • Запрос информации
    • Сферы применения
      • Art, Museum & Conservation
      • Biology / Life Science
      • Biosecurity
      • Carbon Nanotubes
      • Display Technologies
      • Environmental
      • Food & Beverages
      • Forensic
      • Industrial Process
      • Mineralogy / Geology
      • Nanotechnology
      • OEM
      • Pharmaceuticals & Cosmetics
      • Photoluminescence
      • Photovoltaic / Solar Cell
      • Polymers
      • Semiconductors
      • Surface Science
    • Сервис и поддержка
      • Service & Support Request
    • Новости и события
      • Новости
      • события
    • Информационный бюллетень
    • О компании
      • HORIBA
      • HORIBA Jobin Yvon
    • Вакансии
      • Brazil
        • Sales Engineer for South America based in SP Brazil
      • China
        • Service Engineers (x3)
        • Sales Engineers (x4)
      • USA
        • Applications Scientist
        • Applications/Technical Sales Support Engineer
        • Fluorescence Applications/Business Development Manager
    • Обратная связь
  • Список продуктов
  • HORIBA Advanced Techno
  • HORIBA STEC
  • HORIBA TECHNO SERVICE
  • Положения и условия
    • English (original)
  • Политика безопасности
    • English (original)
  • Доступность
  • Карта сайта
  • Поиск
© 1996-2012 HORIBA, Ltd. All rights reserved.
  • Положения и условия
  • Политика безопасности
  • Доступность
  • Карта сайта
  • Поиск