コンポーネントもOEM提供しています!

コンポーネント写真 迷光除去、低迷光、コマ収差や非点収差などの収差補正等に関して、高い技術力・豊富な経験を有するHORIBA Jobin Yvon社のグレーティング技術をご提供させて頂きます。

  • ルールド平面グレーティング
  • ホログラフィック平面グレーティング
  • ブレーズドホログラフィク平面グレーティング
  • 凹面グレーティング
  • フラットフィールド/イメージング用凹面グレーティング
  • モノクロメーター用グレーティング
  • など、様々な目的に応じ、グレーティングをご提供できます。

HORIBA Grating Technologies
HORIBAの次代を牽引するコア技術

蛍光分光光度計

錯体や太陽電池、人工光合成などの材料の組成を評価できる装置です。

蛍光分光光度計FluoroMax-4

フォトンカウンティング法により、高感度と高速スキャンを両立した装置です。

ラマン分光測定装置

固体・液体・気体・粉体の化学組成や結晶性を測定できます。

ラマン顕微鏡 XploRAシリーズ

暗視野、偏光、微分干渉などの観察機能により異物測定に最適です。

分光エリプソメータ

薄膜の膜厚や屈折率を非破壊・非接触で測定できる装置です。

分光エリプソメータUVISEL2

同一ファイバ・光学系のため、再調整、再校正の必要がなく、微小領域において高精度な測定が実現できます。

フォトルミネッセンス測定装置

化合物半導体の高速マッピングでウェハのPLイメージングを短時間で確認できます。

顕微フォトルミネッセンス測定装置LabRAM-HR PL

非破壊、非接触による、化合物半導体の組成評価、欠陥評価、量子井戸の評価、不純物評価、結晶性評価が行えます。