『X線分析顕微鏡』は高分解能の透過X線像により、試料内部の構造解析が可能です。X線の輝度が従来比で50倍にアップしたため、これまで難しかった透過能力が向上し、短時間でしかも非破壊の分析ができるようになりました。下の例では、鉛フリーはんだの内部にある、大きさ10μmのボイド(空洞)も一目で発見できます。

X線の輝度アップにより、マクロ領域はもちろん、10μmのX線ビームでミクロ領域までカバーした分析が可能です。たとえば、プリント基板実装で配線間ショートなどの原因となるイオンマイグレーション現象。『X線分析顕微鏡』ではフラックスでコーティングされた上からも、元素分析が非破壊で短時間で行え、原因解析に威力を発揮します。

ご紹介した例だけでなく、『X線分析顕微鏡』が活躍する分野は多岐にわたります。そのいくつかをご紹介しましょう。

このほかにも、『X線分析顕微鏡』の応用分野は無限にひろがります。みなさまからの「こんな使い方ができませんか？」というお声を、ぜひお聞かせください。詳しくは下記の製品情報から。