No campo dos materiais avançados, os metais primários são essenciais para áreas como aeroespacial, automotiva, eletrônica e de dispositivos médicos. Garantir a qualidade e o desempenho desses metais exige análises extensivas.
A análise elementar de metais envolve um conjunto de técnicas avançadas para determinar a composição, distribuição e perfil de profundidade dos elementos em amostras metálicas, fornecendo informações essenciais para aplicações em ciência dos materiais, manufatura e controle de qualidade.
O método de análise por fluorescência de raios X (XRF) é excelente para a análise quantitativa simultânea de múltiplos elementos, sendo não destrutivo e rápido. Este método, complementar à espectroscopia infravermelha não dispersiva (NDIR), é adequado para a determinação altamente sensível de elementos específicos (principalmente carbono, enxofre, hidrogênio e oxigênio).
Ao fornecer informações detalhadas sobre a distribuição de elementos em função da profundidade, a Espectroscopia de Emissão Óptica por Descarga Luminescente (GDOES) é ideal para a análise de elementos traço e de revestimentos metálicos, auxiliando na compreensão das propriedades dos materiais, na melhoria dos processos de fabricação e na garantia do controle de qualidade.
A análise elementar de ponto único ou multiponto, bem como o mapeamento elementar, podem ser realizados utilizando a tecnologia µ-XRF, que focaliza raios X e possibilita a análise elementar de pequenas áreas.
Os analisadores de caracterização de partículas (PCA) fornecem medições precisas da distribuição do tamanho das partículas, essenciais para a compreensão das propriedades de fluxo e do comportamento de sinterização de pós metálicos.
A espectroscopia Raman e outras técnicas espectroscópicas podem ser usadas para analisar a estrutura cristalina e a microestrutura de óxidos metálicos e complexos metálicos, que são facilmente distinguidos por seus espectros característicos.
A Microscopia de Força Atômica (AFM) pode avaliar a rugosidade da superfície, revestimentos e tratamentos para garantir adesão adequada, resistência à corrosão e integridade geral da superfície.
HORIBA fornece instrumentos e soluções analíticas avançadas que auxiliam significativamente na análise de metais.
Analisador de carbono/enxofre
(Modelo de alta precisão, carro-chefe da linha)
Analisador de Oxigênio/Nitrogênio/Hidrogênio
(Modelo de alta precisão, carro-chefe da linha)
Espectrômetro de Emissão Óptica por Descarga Luminescente de Radiofrequência Pulsada
Microscópio Analítico de Raios X (Micro-XRF)
Analisador de Distribuição de Tamanho de Partículas por Dispersão de Laser
Analisador de nanopartículas
Espectroscópio Raman - Microscópio de Imagem Automatizado
Microscópio de varredura por sonda com assinatura química
Analisadores de área de superfície de gás em fluxo BET
Analisador de carbono/enxofre (modelo básico)
Analisador de Oxigênio/Nitrogênio (Modelo Básico)
Análise simultânea de rastreamento de nanopartículas multiespectrais (NTA)
Analisador de fluorescência de raios X
Espectrômetro MicroRaman - Microscópio Raman Confocal
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