Webinar in French / Webinaire en français

This webinar explains the growing role of surface characterization in industry, as surface composition affects material performance. It highlights the use of treatments and coatings to improve properties and presents GDOES as a fast, versatile method for analyzing layers, corrosion, and detecting nearly all elements, even on rough surfaces.

Esta nota de aplicação demonstra o uso de GD-OES de RF pulsado para perfilamento de profundidade nanométrico de poços quânticos e pontos quânticos de (Al,Ga)N. A técnica auxilia na otimização do processo e no controle de qualidade da espessura e composição das camadas em estruturas optoeletrônicas UV avançadas.

Compreender como e por que as baterias se degradam ao longo do tempo é essencial para melhorar o design e o desempenho do ciclo de vida.
Neste webinar, explore a abordagem da HORIBA para estudos de envelhecimento usando µRaman, GD-OES e SEI para diagnósticos in situ e ex situ. Veja como mapeamos o crescimento da SEI, detectamos a formação de óxido e acompanhamos as mudanças estruturais nos eletrodos para prever a queda de desempenho e orientar melhores escolhas de materiais e processos.

A cristalinidade e a estrutura do material são fundamentais para maximizar a energia e a densidade de potência da bateria. As ferramentas µRaman e QCarbon da HORIBA oferecem acesso direto às proporções de carbono ID/IG e à uniformidade do revestimento, enquanto a espectroscopia de emissão óptica com dispersão de gás (GDOES) revela perfis de profundidade elementares. Este webinar apresenta técnicas essenciais de caracterização para materiais à base de carbono e materiais catódicos, permitindo um melhor design e controle de qualidade para baterias de última geração.

Estudos de superfície e interface necessitam de técnicas analíticas complementares, como GDOES e Raman, para fornecer perfis elementares e informações moleculares sobre multicamadas de diversas profundidades. Este webinar ilustra essa complementaridade apresentando resultados selecionados em revestimentos poliméricos, filmes anódicos, baterias, revestimentos em vidro e revestimentos de DLC.

Neste webinar, exploramos como as soluções integradas da HORIBA, incluindo a caracterização de partículas e a MicroXRF, proporcionam uma caracterização abrangente de materiais de carbono e pós catódicos. Enquanto os sistemas de difração a laser e sedimentação centrífuga analisam a distribuição do tamanho das partículas e o estado de dispersão com alta precisão e preparação mínima da amostra, a MicroXRF revela a composição elementar e as proporções dentro dos eletrodos em microescala.

A técnica GD-OES oferece uma maneira de caracterizar a superfície de camadas subjacentes, analisando crateras GD-OES por meio de Raman e µ-XRF, confirmando a ausência de alterações na superfície em revestimentos orgânicos/inorgânicos complexos.

A técnica GD-OES proporciona uma análise de perfil de profundidade rápida, uniforme e precisa de revestimentos orgânicos usando plasma de Ar/O₂, aprimorando as capacidades de análise multicamadas.

A combinação entre GD OES pulsado e XPS, especialmente para analisar interfaces embutidas, está despertando o interesse da comunidade de pesquisa de superfícies. Veja este artigo de acesso aberto publicado na revista Coatings.

Descubra o novo folheto do GD-Profiler 2™, nosso Espectrômetro de Emissão Óptica por Descarga Luminescente de Radiofrequência Pulsada, com informações sobre Perfilamento por Interferometria Diferencial (DiP) e as mais recentes funcionalidades e aplicações.

Neste artigo, são apresentadas as características de novos revestimentos porosos fabricados em três voltagens em eletrólitos à base de _H₃PO₄ com nitrato de cálcio tetrahidratado, nitrato de magnésio hexahidratado e nitrato de cobre(II) trihidratado. As técnicas de microscopia eletrônica de varredura (MEV), espectroscopia de dispersão de energia (EDS), espectroscopia de emissão óptica _por descarga luminescente (GDOES), espectroscopia de fotoelétrons de raios X (XPS) e difração de raios X (DRX) foram utilizadas para a identificação dos revestimentos.

Desenvolvemos uma técnica de medição in situ implementada em um instrumento de Espectrometria de Emissão Óptica por Descarga Luminescente (GDOES), que fornece informações de profundidade durante o processo de perfilamento. A configuração é baseada em um interferômetro diferencial e demonstramos que uma precisão de medição melhor que 5% pode ser obtida para profundidades de crateras que variam de 100 nanômetros a várias dezenas de micrômetros. Este desenvolvimento pode ser aplicado diretamente a revestimentos não transparentes e traz uma melhoria significativa ao processo de quantificação em GDOES.

Com uma eficiência de aproximadamente 20%, as células solares de perovskita híbrida são as novas candidatas promissoras para a próxima geração de energia fotovoltaica. Graças ao amplo portfólio HORIBA Scientific, diferentes técnicas podem ser utilizadas para obter um conhecimento aprofundado sobre as propriedades e os mecanismos optoeletrônicos dessa classe de materiais. Nesta nota de aplicação, optamos por utilizar elipsometria espectroscópica, fluorescência em estado estacionário e resolvida no tempo, e espectroscopia de emissão óptica por descarga luminescente para investigar as propriedades de filmes finos de CH3NH3PbI3 depositados sobre PEDOT:PSS por spin-coating. O impacto da exposição ao ar também foi avaliado.

A Espectrometria de Emissão Óptica por Descarga Luminescente de Radiofrequência Pulsada oferece capacidade de perfilamento elementar em profundidade ultrarrápida para a investigação de filmes finos e espessos. Graças ao uso de uma fonte de radiofrequência pulsada, acoplada a um espectrômetro óptico de alta resolução, o GD Profiler 2 proporciona uma excelente resolução em profundidade, permitindo a avaliação rápida da qualidade do revestimento. Nesta nota de aplicação, focamos em uma amostra multicamadas de composto MoS₂/Pb, utilizada como lubrificante sólido. A análise dessa amostra demonstra o excelente desempenho deste instrumento para o estudo de revestimentos complexos com espessura nanométrica.