AFM

AFM-Optische Plattform

Entworfen zur Kombination mit optischen Spektroskopien

Die AFM-Plattform ermöglicht die vollständig integrierte Nutzung von konfokaler Raman-Mikroskopie und AFM für spitzenverstärkte optische Spektroskopien (wie Tip-Enhanced Raman-Spektroskopie (TERS) und Tip-Enhanced Photolumineszenz (TEPL)), aber auch für wirklich kolokalisierte AFM-Raman-Messungen.

Die Vielzahl von AFM-(Atomic Force Microscope)-Techniken, die die Untersuchung topografischer, elektrischer und mechanischer Eigenschaften ermöglichen, können mit jeder im Raman-Spektrometer verfügbaren Laserquelle oder mit anderer externer Beleuchtung (z. B. Sonnensimulator oder anderer abstimmbarer oder kontinuierlicher Quelle) durchgeführt werden. TERS und TEPL können nanoskalige chemische und strukturelle Informationen bereitstellen, wodurch die AFM-Raman-Plattform eine zweispurige Straße ist; wobei komplementäre Techniken sich gegenseitig neuartige und einzigartige Bildgebungsmöglichkeiten bieten.

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AFM-Raman-Präsentation

Nanospektroskopie-Lösungen mit AFM-Raman, TERS, NSOM

Die führende Raman-Technologie HORIBA ist nun mit der Atomkraftmikroskopie (AFM) integriert. Das Endergebnis ist eine umfassendere Probencharakterisierung in einem vielseitigen Instrument für schnelle, gleichzeitige, kolokalisierte AFM-Raman-Messungen, Tip-Enhanced Raman Spectroscopy (TERS) und Tip-Enhanced PhotoLuminescence (TEPL).

NanoRaman Webinar

Korkorrelierte spitzenverstärkte optische Spektroskopie und SPM

In diesem Webinar präsentieren wir neue Fähigkeiten zur Nanobildgebung. Tip-Enhanced Optical Spectroscopies (TEOS) wie TERS (Tip-Enhanced Raman Spectroscopy) und TEPL (Tip-Enhanced PhotoLuminescence) bieten eine einzigartige Fähigkeit zur Charakterisierung von Molekülen, 1D- und 2D-Materialien, halbleitenden Nanostrukturen und Biomaterialien.

Technologie & Häufig gestellte Fragen

AFM-Raman (ko-lokalisierte Messungen & TERS)

TERS bringt die Raman-Spektroskopie in die nanoskalige Bildgebung. Erfahren Sie mehr über diese superauflösende chemische Bildgebungstechnik.

Erfahrungsberichte von Kunden

“(…) Dank der kundenorientierten Kultur von HORIBA aktualisiert das nano-Raman-Team von LPICM derzeit seinen "historischen" Prototyp mit dem neuartigen TERS-System. Es wird uns ermöglichen (...) neue Forschungsbereiche einzuleiten, die mit dem derzeitigen System unmöglich zu bewältigen sind."
Prof. Razvigor OSSIKOVSKI, Leiter des Nano-Raman-Teams, LPICM, École Polytechnique, Frankreich

Nutzerarbeiten

Greifen Sie auf eine Liste der Publikationen von AFM-Raman-Nutzern auf und entdecken, wie TERS und TEPL einen hohen wissenschaftlichen Einfluss erzielen.

AFM-Raman-Ausbildungen

Unsere Trainer sind Experten für die AFM-Raman-Technik. Sie bieten Schulungen, Ratschläge und Anleitungen an, um Ihr HORIBA Instrument bestmöglich zu nutzen. Sie gewinnen Vertrauen und Erfahrung in der Analyse Ihrer Stichproben.

Empfohlen

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Gleichzeitige Zweilaser-Anregung in TERS Analyse – Anwendungshinweis-Illustration

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Entdecken Sie aktuelle Fortschritte in der TERS Bildgebung von 2D-Materialien

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Gleichzeitige strukturelle und chemische Charakterisierung mit kolokalisiertem AFM-Raman

Die Kombination aus Atomkraftmikroskopie (AFM) und Raman-Spektroskopie liefert tiefgehende Einblicke in die komplexen Eigenschaften verschiedener Werke. Während die Raman-Spektroskopie die chemische Charakterisierung von Verbindungen, Grenzflächen und komplexen Matrizen erleichtert und wichtige Einblicke in molekulare Strukturen und Zusammensetzungen bietet, einschließlich mikroskaliger Schadstoffe und Spurenmaterialien. AFM liefert wesentliche Daten zu Topographie und mechanischen Eigenschaften wie Oberflächentextur, Haft, Rauheit und Steifigkeit im Nanobereich.

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Webinar: Charakterisierung von Halbleitermaterialien durch optische Mikrospektroskopien

Das Wachstum der Industrialisierung von Halbleitermaterialien erfordert Technologien, um deren Eigenschaften zu charakterisieren. Optische mikroskopische Plattformen wie Raman-Mikroskope bieten sowohl physikalische als auch chemische Informationen in einem System. So können Prozessqualifizierung, Wafer-Uniformitätsbewertung oder Fehlerinspektion von Wafern mit Ramanmikroskopie durchgeführt werden. Diese können auch auf die Charakterisierung neuer Materialien angewendet werden.

In diesem Webinar werden wir hervorheben, wie Photolumineszenz- und Ramanmikroskopie Herausforderungen im Bereich Halbleiter angehen können. Wir zeigen außerdem, wie die Kombination von Mikrospektroskopien mit AFM (Atomarkraftmikroskopie) eine Nanoauflösung und ein tieferes Verständnis dieser Strukturen ermöglichen kann.

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Kollokalisierte AFM-Raman-Analyse von Graphen

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Kollokalisierte AFM-Raman-Analyse von 2D-Materialien-Heterostrukturen

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TERS Charakterisierung von Lipid-Nanoröhren als kohlenstoffhaltiges Material für Elektroden

TERS Charakterisierung pyrolysierter Lipidnanoröhren zur Herstellung von Nanoelektroden

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TERS auf funktionalisierten Goldnanostrukturen für die Biosensorik im Nanomaßstab.

TERS Nanolokalisierung von SERS-Hotspots

Die oberflächenverstärkte Ramanstreuung (SERS) ist eine leistungsstarke, plasmonikbasierte Analysetechnik für die Biosensorik. Der SERS-Effekt beruht auf Nanostrukturen, die so gestaltet werden müssen, dass sie die Verstärkungsfaktoren und die molekulare Spezifität maximieren. Neben der numerischen Modellierung wäre ein analytisches Werkzeug, das in der Lage ist, lokale Verstärkungen bildlich darzustellen, ein zusätzlicher Wert.

TERS-Charakterisierung von Phospholipid-Doppelschichten und Detektion von Nanopartikeln.

Zerstörungsfreie und labelfreie hyperspektrale chemische Bildgebung von Phospholipid-Doppelschichten mit räumlicher Auflösung von 7 nm

Phospholipid-Doppelschichten, Hauptbestandteile von Membranen, wirken als Barriere für selektive Permeabilität der Nanopartikel, die heute weitgehend in unsere Umwelt gelangen. Die Untersuchung der Wechselwirkungen zwischen Nanopartikeln und zellulären Membranen erfordert eine molekulare chemische Sonde mit Nanometerauflösung.

c-AFM and in operando TERS & µRaman Characterization of Molecular Switching in Organic Memristors

c-AFM und in operando TERS & μRaman Charakterisierung des molekularen Switching in organischen Memristoren

Das Entstehen organischer Memristoren wurde durch schlechte Reproduzierbarkeit, Langlebigkeitsstabilität, Skalierbarkeit und geringe Schaltgeschwindigkeit behindert. Die Kenntnis des primären Antriebsmechanismus auf molekularer Ebene wird der Schlüssel zur Verbesserung der Robustheit und Zuverlässigkeit solcher organisch basierten Geräte sein.

Korrelierte TERS und KPFM von Graphenoxidflocken

AFM-Raman und sein TERS-Modus werden verwendet, um nanoskalige Oberflächenkartierung von Strukturdefekten und chemischen Gruppen auf Graphenoxid-(GO)-Flocken mit einer räumlichen Auflösung von 10 nm zu zeigen. TERS Kartierung wird mit Kelvin-Sondenkraftmikroskopiemessungen kombiniert, um gleichzeitig topographische, elektronische und chemische Bildgebung der GO-Oberfläche zu ermöglichen. Die in dieser Notiz vorgeschlagene Multi-Parameter-Messmethodik erweitert die Möglichkeit TERS eine direkte Korrelation der lokalen chemischen Zusammensetzung und physikalischer Eigenschaften auf Nanoskala zu ermöglichen, nicht nur für 2D-Materialien, sondern für nahezu jede Probenoberfläche.

AFM –TERS Messungen in einer flüssigen Umgebung mit seitlicher Beleuchtung/Sammlung

Diese Anwendungsnotiz enthüllt die wichtigsten instrumentellen Details, um bei TERS Messungen in Flüssigkeiten mit seitlicher Beleuchtungs- und Sammelgeometrie erfolgreich zu sein. Diese Fähigkeit zielt darauf ab, Durchbrüche in vielen Anwendungen wie heterogene Katalyse, Elektrochemie, Zellbiologie und Biomaterialien zu erzielen. In dieser Notiz wird die nanoskalige chemische Bildgebung von Graphenoxidflocken und in Wasser eingetauchten Kohlenstoffnanoröhren mit einer TERS Auflösung bis zu 20 nm sowie echten kontaktlosen AFM-Bildern demonstriert.

Charakterisierung von Nanopartikeln aus Verbrennungsmotoremissionen mittels AFM-TERS

Eine neue Sorge um die menschliche Gesundheit wird nun durch Partikel unter 23 nm geweckt, die von Straßenfahrzeugen ausgestoßen werden. Neben der Messung von Partikelanzahl und -masse ist es auch entscheidend, die chemische Oberflächenzusammensetzung der Nanopartikel zu bestimmen, um die potenzielle Reaktivität gegenüber der Umgebung zu verstehen.

Korrelierte TERS TEPL- und SPM-Messungen von 2D-Materialien

Diese Anwendungsnotiz berichtet über die Nanocharakterisierung von 2D-Übergangsmetalldichalkogeniden (TMDCs), Materialien, die als sehr hochpotente Halbleiter für zukünftige nanogroße elektronische und optoelektronische Bauelemente gelten. Die Rastersondenmikroskopie, die Zugang zu den kritischen topographischen und elektronischen Eigenschaften im Nanobereich ermöglicht, wird mittels Plasmonverstärkung mit Photolumineszenz (PL) und Raman-Spektroskopien gekoppelt, um korrelierte elektrische und chemische Informationen bis auf den Nanobereich zu liefern.