SignatureSPM

Rastersondenmikroskop mit chemischer Signatur

AFM durch chemische Identifikation verbessern

SignatureSPM ist das erste Mikroskop, das auf einer multimodalen Charakterisierungsplattform basiert und ein automatisiertes Rasterkraftmikroskop (AFM) mit einem Raman/Photolumineszenz-Spektrometer integriert, wodurch echte kolokalisierte Messungen physikalischer und chemischer Eigenschaften ermöglicht werden.
Durch die kombinierte physikalische und chemische Erkenntnis, die in einer einzigen Echtzeitmessung gewonnen wird, kann der Forscher eine zuverlässige und umfassende Analyse der Probe erhalten. Dank des geringeren Probenhandlings verkürzt sich die Zeit bis zum Ergebnis, und dank der Korrelation von Differenzmessungen wird eine Datenerfassung mit hohem Vertrauensniveau durchgeführt.

Segment: Scientific

Abteilung: AFM und AFM-Raman

Produktionsfirma: HORIBA France SAS

Erweiterte Fähigkeiten zur vollständigen Charakterisierung

Alle AFM-Modi sind serienmäßig enthalten

Alle AFM-Modi sind im Basispaket SignatureSPM enthalten: Kelvin-Sondenmikroskopie, Piezo-Reaktionskraftmikroskopie, Magnetkraftmikroskopie, Nanolithographie, Kraftkurvenmessungen.

Breitbandspektrometer, optimiert für Raman- und Photolumineszenz

Das für spektroskopisches Imaging entwickelte Spektrometer des SignatureSPM gewährleistet dank seines achromatischen Designs und einer beeindruckenden Lichtreflexion von 95 % minimale Lichtverluste. Es ermöglicht präzise und effiziente Raman- und PL-Messungen dank seines vielseitigen Designs, das bis zu drei Gitter für einen breiten Spektralbereich aufnehmen kann.

Echte ko-lokalisierte Messungen mit "Probe away"

Der Softwarebefehl „Probe away“ bewegt den Cantilever von der Probenoberfläche weg, um uneingeschränkte konfokale Raman-Aufnahmen zu ermöglichen. Mit dem Befehl „Probe back“ kehrt die AFM-Spitze automatisch zu ihrem vorherigen Analysepunkt auf der Probenoberfläche zurück.

Direkter Weg zum Cantilever-Apex mit hohem optischen Zugang

Die optischen Wege für AFM und Spektroskopie sind vollständig getrennt.
Eine solche Trennung ermöglicht die freie Wahl der Wellenlänge des Raman/Photolumineszenz-Lasers (PL) und vereinfacht die gesamte Systemanpassung. Es bietet außerdem eine sehr hohe Vergrößerung, um die AFM-Spitze sichtbar zu machen und so eine bessere Positionsgenauigkeit zu erzielen.

AFM für große Scans und molekulare Auflösung

Das SignatureSPM bietet dank seines Scanners mit einem Messbereich von 100 x 100 x 15 Mikrometern eine herausragende AFM-Leistung mit hoher Stabilität und Geschwindigkeit. Es ermöglicht große Scanbereiche und molekulare Auflösung und legt dabei Wert auf Stabilität durch schnelle Ansprechzeit, geringes Rauschen, geringe Drift und metrologische Rückführbarkeit.

Schnelle und wiederholbare Anpassung des Cantilevers

Der Spitzenwechsel ist nahtlos und unabhängig vom Bediener möglich und zeichnet sich durch unübertroffene Reproduzierbarkeit aus. Beim Austausch des Cantilevers lässt sich dieselbe Stelle auf der Probenoberfläche ohne zusätzliche Suchschritte leicht finden und abtasten (Wiederholgenauigkeit im Mikrometerbereich).

Automatisierte Anpassung des AFM-Registrierungssystems

Die vollautomatische Ausrichtung von Laser, Cantilever und Fotodiode ist für die nahtlose Integration in die optische Spektroskopie ausgelegt und macht einen Eingriff des Benutzers überflüssig.

Keine Störung zwischen AFM-Laser- und spektroskopischen Messungen

Die infrarote AFM-Laserdiode stört nicht die sichtbaren Raman/PL-Anregungslaser und eliminiert jeglichen parasitären Einfluss auf sichtbar lichtempfindliche biologische, halbleiter- und photovoltaische Proben.

Kollokalisierte AFM-Raman-Analyse von 2D-Materialien-Heterostrukturen

Van-der-Waals-Heterostrukturen, deren einzigartige Eigenschaften aus der schwachen Schichtkopplung und der starken in-plane Bindung resultieren, bieten spannende Möglichkeiten für die Gestaltung neuartiger Materialien mit maßgeschneiderten elektronischen, optischen und mechanischen Eigenschaften.

Kollokalisierte AFM-Raman-Analyse von Graphen

Graphen, eine einzelne Schicht von Kohlenstoffatomen, die in einem zweidimensionalen Wabenmuster angeordnet sind, weist bemerkenswerte elektrische, thermische und mechanische Eigenschaften auf, was es zu einem Gegenstand umfangreicher Forschung in verschiedenen wissenschaftlichen Bereichen macht.

Größe: 7.51 MB

SignatureSPM- Rastersondenmikroskop - Broschüre