256 × 256 Punkte wurden gleichzeitig topografisches Bild (rechts) und zusammengesetzte Raman-Karte (links) von Graphen aufgenommen.
Raman- und AFM-Analysen (Atomkraftmikroskopie) lassen sich auf einem einzigen Mikroskopsystem kombinieren. Dies eröffnet interessante neue Möglichkeiten und liefert erweiterte Informationen zur Probenzusammensetzung und -struktur, indem physikalische und chemische Daten desselben Probenbereichs erfasst werden. Die kolokalisierte AFM-Raman-Messung ist die sequentielle oder simultane Aufnahme überlagerter SPM- (Rastersondenmikroskopie) und Raman-Spektren mit pixelgenauer Korrespondenz in den Bildern.
Einerseits liefern AFM und andere SPM-Techniken wie STM, Scherkraft- oder Normalkraftmessungen topographische, mechanische, thermische, elektrische und magnetische Eigenschaften bis hinunter zur molekularen Auflösung (~ nm, über μm² Fläche), andererseits liefern konfokale Raman-Spektroskopie und -Bildgebung spezifische chemische Informationen über das Material mit beugungsbegrenzter räumlicher Auflösung (Submikrometer).
