Die Übertragungskonfiguration erlaubt die Verwendung der objektiven Objektive mit der höchsten numerischen Apertur (NA), kann jedoch nur für transparente Proben verwendet werden. Die Reflexionskonfiguration kann für jede Art von Samples verwendet werden (undurchsichtig und transparent), ist jedoch auf niedrigere NA-Ziele beschränkt.
TERS (Tip Enhanced Raman Spectroscopy) ermöglicht die Raman-Spektroskopie für die Bildgebung im Nanometerbereich1-6. TERS ist eine chemische Superresolutionstechnik. Darüber hinaus ist es eine markierungsfreie Superresolutions-Imaging-Technik, die durch unsere neuartige Technologie zu einer wichtigen neuen Bildgebungstechnologie weiterentwickelt wurde.
TERS Bildgebung erfolgt mit einem AFM-Raman-System, bei dem ein Scanning Probe-Mikroskop (SPM, das im Rasterkraft-, Rastertunnel- oder Normal-/Scherkraftmodus eingesetzt werden kann) über eine optomechanische Kopplung mit einem konfokalen Raman-Spektrometer integriert ist. Das Rastersondenmikroskop ermöglicht nanoskalige Bildgebung, die optische Kopplung bringt den Anregungslaser zur funktionalisierten Spitze (oder Sonde), und das Spektrometer analysiert das Raman- (oder anderweitig gestreute) Licht und liefert ein hyperspektrales Bild mit nanometergroßem chemischem Kontrast.
Ein TERS-System basiert auf einer metallischen Spitze (meist aus Gold oder Silber), die das einfallende Lichtfeld an der Spitze konzentriert. Die Spitze wirkt als Nanoquelle für Licht und lokale Feldverstärker, verbessert die Raman-Empfindlichkeit erheblich (um den Faktor 10 3-10 7) und reduziert das untersuchte Volumen auf den "Nano"-Bereich unmittelbar unterhalb der Spitze. Die optische Kopplung, die die beiden Instrumente verbindet, verwendet ein konfokales Schema. Für diese Kopplung existieren zwei verschiedene Konfigurationen: eine im Getriebe und eine in der Reflexion (Abb. 2), mit eigenen Vor- und Nachteilen.
Die Übertragungskonfiguration erlaubt die Verwendung der objektiven Objektive mit der höchsten numerischen Apertur (NA) (einschließlich Immersionsobjektive), was eine hohe Leistungsdichte am Fokuspunkt ermöglicht und die Erfassung hoher Signalpegel ermöglicht, aber sie kann nur für transparente Samples verwendet werden. Die Reflexionskonfiguration kann für jede Art von Samples verwendet werden (undurchsichtig und transparent), ist jedoch auf niedrigere NA-Ziele beschränkt. Durch die Kombination von Punkt-für-Punkt-Scanning und gleichzeitiger Spektrumerfassung können Nahfeld-Raman-Kartierungen mit lateraler Auflösung bis zu zehn Nanometern oder weniger durchgeführt werden.
