Recherche par champ d'application
Composition élémentaire qualitative et quantitative pour :
L'analyse élémentaire des matériaux consiste à identifier et à quantifier les éléments chimiques d'un échantillon afin d'en déterminer la composition. Elle mesure le type et la quantité d'éléments présents, fournissant ainsi des informations sur la composition du matériau et est essentielle à l'évaluation de ses performances (poids, résistance, résistance à la corrosion, etc.).
Des techniques avancées sont utilisées dans des secteurs tels que les semi-conducteurs, la métallurgie, l'industrie pharmaceutique et les sciences de l'environnement pour comprendre la composition des matériaux, un élément essentiel à la recherche, au contrôle qualité et à la conformité réglementaire. L'analyse élémentaire est essentielle pour garantir la performance des matériaux et stimuler l'innovation dans diverses applications.
Abonnez-vous à notre newsletter Analyse Élémentaire et obtenez plus d'informations sur les applications, les produits, les webinaires, les événements et plus encore !
L'analyse d'empreinte identifie la signature élémentaire unique d'un matériau, contribuant ainsi à déterminer la composition, la structure et les caractéristiques distinctives. Elle est essentielle pour vérifier les matières premières, garantir l'homogénéité des lots et détecter toute contamination ou fraude.
Généralement, l'analyse d'empreintes repose sur des résultats qualitatifs ou semi-quantitatifs et peut s'avérer intéressante pour détecter des défauts ou des inhomogénéités locales. Les éléments et composés sont détectés à des niveaux allant du ppm (selon la technique utilisée) jusqu'au pourcentages (%)L'analyse d'empreintes est donc essentielle pour le contrôle qualité, le développement de matériaux, les investigations forensiques et l'analyse des défaillances dans tous les secteurs.
Les techniques de fluorescence X (XRF) ou de spectroscopie d'émission élémentaire (ICP-OES ou GDOES) génèrent des profils spectraux ou élémentaires pour l'authentification des matériaux, les enquêtes médico-légales et la détection de contrefaçons.
L'analyse des teneurs des majeurs détermine les principaux éléments d'un matériau, généralement à des concentrations supérieures à 1 % en poids. Elle garantist l'intégrité du produit, la conformité aux normes et l'optimisation du processus.
Des techniques telles que l'ICP-OES (spectroscopie d'émission optique à plasma inductif), la fluorescence X (XRF) et les analyseurs C/S quantifient la composition volumique des métaux, des céramiques et des semi-conducteurs, tandis que la spectroscopie d'émission optique à décharge luminescente (GDOES) se concentre principalement sur les revêtements. Ces méthodes contribuent au maintien de la qualité dans les secteurs de la métallurgie, de l'automobile, des composants photoniques ou de l'énergie (batteries, piles à combustible).
L'analyse du contenu en traces et ultra-traces détecte les impuretés et les composants élémentaires mineurs à de faibles niveaux ppm, ppb ou même inférieurs, garantissant la pureté, la sécurité et les performances du matériau.
Même une contamination minime peut affecter la fabrication de semi-conducteurs, les métaux de haute pureté, les produits pharmaceutiques et la surveillance environnementale. Des techniques telles que l'ICP-OES et les analyseurs H/N/O permettent une quantification très sensible des éléments traces, identifiant ainsi les contaminants, les dopants et les éléments indésirables dans les applications critiques.
La spectroscopie d'émission optique par plasma à couplage inductif (ICP-OES) permet une analyse élémentaire très sensible des échantillons liquides et, éventuellement, de certains solides, comme le graphite, grâce à un accessoire dédié. Idéale pour la détection d'éléments traces dans des matrices complexes (saumures, terres rares, etc.), elle offre une grande précision et une large plage dynamique. Ses applications incluent la chimie, la métallurgie, l'énergie, etc.
La spectroscopie d'émission optique à décharge luminescente (GDOES) permet l'analyse en profondeur des matériaux solides, en mesurant les concentrations élémentaires en fonction de la profondeur. Les instruments GDOES sont utilisés dans les universités où ils contribuent au développement de nouveaux matériaux avec des revêtements à l'échelle nanométrique et supérieure, ainsi que dans l'industrie pour surveiller la fabrication de dispositifs photovoltaïques, comprendre l'origine de la corrosion, évaluer la composition des métaux précieux, contrôler la fabrication des disques durs ou des LED, améliorer les batteries au lithium, etc.
Les systèmes de fluorescence X (XRF) d'HORIBA permettent une analyse élémentaire non destructive des solides, des poudres et des liquides, détectant des particules aussi petites que 10 µm. Le balayage automatisé permet une cartographie détaillée sur des zones allant jusqu'à 10 cm × 10 cm. Idéal pour des secteurs comme l'électronique, l'exploitation minière, les batteries et les piles à combustible, ainsi que le recyclage, la fluorescence X permet une analyse de composition rapide et économique. Elle excelle également dans les applications de recherche, offrant une détection haute sensibilité des métaux de transition et une cartographie à l'échelle millimétrique, surpassant dans certains cas le MEB-EDX.
La série EMIA permet une mesure précise de la teneur en carbone et en soufre des échantillons solides inorganiques, essentielle au contrôle qualité dans la production d'acier et de métaux, l'affinage des métaux en général et la fabrication des céramiques. Ces analyseurs sont reconnus pour leur grande sensibilité, leur précision et leur simplicité d'utilisation, garantissant l'intégrité des matériaux et la conformité aux normes.
La série EMGA d'HORIBA est conçue pour mesurer l'oxygène, l'azote et l'hydrogène dans les métaux et les matériaux solides inorganiques. Ces instruments sont largement utilisés dans les industries de la métallurgie (poudres et copeaux), de la céramique et des matériaux avancés grâce à leur sensibilité élevée, leur précision et leur simplicité d'utilisation, garantissant l'intégrité des matériaux et leur conformité aux normes.
HORIBA propose des analyseurs de soufre spécialement conçus pour mesurer la teneur en soufre des huiles, carburants et lubrifiants. Ces instruments contribuent à garantir la conformité aux réglementations environnementales (normes ASTM D4294 et ISO 8754, par exemple) et à celles qui régissent les limites de soufre dans les carburants. Ils sont largement utilisés dans les industries pétrochimique, automobile et aéronautique. De faibles niveaux de chlore peuvent également être détectés afin de prévenir la corrosion des canalisations (ASTM D4929).
Spectromètre ICP-OES haute résolution, haute sensibilité et haute stabilité
Spectromètre d'émission optique à décharge luminescente RF pulsée
Microscope d'analyse X (Micro-XRF)
Analyseur de carbone/soufre
(modèle haute précision)
Analyseur d'oxygène/azote/hydrogène
(modèle haute précision)
Analyseur de soufre dans l'huile par fluorescence X
Analyseur de carbone/soufre (modèle d'entrée de gamme)
Analyseur d'oxygène/azote (modèle d'entrée de gamme)
Vous avez des questions ou des demandes ? Utilisez ce formulaire pour contacter nos spécialistes.
