X 射線螢光 (XRF) 是一種無損元素分析技術，可根據材料發出的螢光 X 射線訊號來識別材料中含有哪些元素並確定材料中元素的濃度。

在 XRF 分析儀中，能量色散 X 射線螢光 (EDXRF) 分析儀憑藉其無損方法、多元素檢測、更少的樣品製備和更短的測量時間，更適合對各種樣品應用進行篩選分析。

HORIBA 自 1956 年以來在 X 射線技術領域擁有悠久的歷史，我們不斷開發採用能量色散法的 XRF 分析儀。 HORIBA XRF分析儀已廣泛應用於各個領域：燃料電池、鋰離子電池、製藥和其他工業領域檢測異物和開發新材料，以及天體地質學、考古學、法醫學和其他研究領域執行對珍貴樣品進行非破壞性分析。