Webinaire en français / Webinar auf Französisch

In diesem Webinar geht es um die entscheidende Bedeutung der Charakterisierung von Oberflächen in der Industrie, da die oberflächliche Zusammensetzung für die Verwendungszwecke des Materials von entscheidender Bedeutung ist. Die Lumineszenzspektrometer (SDL) oder GDOES sind als besonders leistungsstarkes Gerät zur Charakterisierung von Oxidschichten und Korrosionsprodukten sowie zum Nachweis der Zerbrechlichkeit durch Wasserstoff erforderlich.

Diese Anwendungsnotiz demonstriert die Verwendung von gepulsten RF GD-OES für nanometrische Tiefenprofilierung von (Al,Ga)N-Quantenbrunnen und Quantenpunkten. Die Technik unterstützt die Prozessoptimierung und Qualitätskontrolle der Schichtdicke und -zusammensetzung in fortschrittlichen UV-optoelektronischen Strukturen.

Das Verständnis, wie und warum Batterien im Laufe der Zeit abgebaut werden, ist entscheidend für die Verbesserung des Designs und der Lebenszyklusleistung.
In diesem Webinar erkunden Sie HORIBAs Ansatz zu Alterungsstudien mit µRaman, GD-OES und SEI für sowohl in-situ als auch ex-situ Diagnosen. Sehen Sie, wie wir das Wachstum der SEI kartieren, die Bildung von Oxiden erkennen und strukturelle Veränderungen in Elektroden verfolgen, um den Leistungsabfall vorherzusagen und bessere Material- und Prozessentscheidungen zu treffen.

Kristallinität und Materialstruktur sind entscheidend für die Maximierung der Energie- und Leistungsdichte von Batterien. HORIBAs µRaman- und QCarbon-Werkzeuge bieten direkten Zugang zu Kohlenstoff-ID/IG-Verhältnissen und Beschichtungsuniformität, während GDOES elementare Tiefenprofile offenbart. Dieses Webinar führt Sie durch wesentliche Charakterisierungstechniken für sowohl kohlenstoffbasierte als auch Kathodenmaterialien und ermöglicht eine bessere Gestaltung und Qualitätskontrolle für die Batterien der nächsten Generation.

Oberflächen- und Grenzflächenstudien benötigen komplementäre analytische Techniken wie GDOES und Raman, um elementare Profile und molekulare Einblicke in Mehrschichten verschiedener Tiefen zu liefern. Dieses Webinar veranschaulicht diese Komplementarität, indem es ausgewählte Ergebnisse zu polymeren Beschichtungen, anodischen Filmen, Batterien, Beschichtungen auf Glas und DLC-Beschichtungen zeigt.

In diesem Webinar untersuchen wir, wie die integrierten Lösungen von HORIBA, einschließlich der Partikelcharakterisierung und MicroXRF, eine umfassende Charakterisierung von Kohlenstoffmaterialien und Kathodenpulvern bieten. Während Laserdiffraktions- und zentrifugale Sedimentationssysteme die Partikelgrößenverteilung und den Dispersionszustand mit hoher Präzision und minimaler Probenvorbereitung analysieren, offenbart MicroXRF die elementare Zusammensetzung und Verhältnisse innerhalb von Elektroden im Mikromaßstab.

GD-OES bietet Ihnen eine Möglichkeit, die Oberfläche von Unterlagen zu charakterisieren, indem GD-OES-Krater mit Raman- und µ-XRF-Analysen untersucht werden, um zu bestätigen, dass es keine Veränderungen der Oberfläche in komplexen organischen/inorganischen Beschichtungen gibt.

GD-OES bietet eine schnelle, gleichmäßige und präzise Tiefenprofilierung organischer Beschichtungen mit Ar/O₂-Plasma und verbessert so die Mehrschichtanalysefähigkeiten.

Die Kombination aus gepulstem GD OES und XPS, insbesondere zur Betrachtung eingebetteter Schnittstellen, weckt Interesse in der Surface-Community. Schauen Sie sich diesen Open-Access-Artikel an, der in Coatings veröffentlicht wurde.

Entdecken Sie die neue Broschüre für den GD-Profiler 2™, unser Pulsed RF Glow Discharge Optical Emission Spectrometer, mit Informationen zum Differentialinterferometrieprofiling (DiP) sowie den neuesten Funktionen und Anwendungen.

In diesem Artikel werden die Eigenschaften neuer poröser Beschichtungen vorgestellt, die bei drei Spannungen in Elektrolyten auf Basis von H₃ PO₄ mit Calciumnitrattetrahydrat, Magnesiumnitrathexahydrat und Kupfer(II)-Nitrattrihydrat hergestellt werden. Es wurden SEM, energiedispersive Spektroskopie (EDS), Glüutentladungs-Optische Emissionsspektroskopie (GDOES), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und XRD-Techniken zur Beschichtungsidentifikation verwendet.

Wir entwickelten eine In-situ-Messtechnik, die auf einem Glow Discharge Optical Emission Spectrometry (GDOES)-Instrument implementiert wurde und die Tiefeninformationen während des Profilierungsprozesses liefert. Das Setup basiert auf einem differenziellen Interferometer, und wir zeigen, dass eine Messgenauigkeit von über 5 % für Kratertiefen von 100 Nanometern bis zu mehreren Dutzend Mikrometern erreicht werden kann. Diese Entwicklung kann direkt auf nichttransparente Beschichtungen angewendet werden und bringt erhebliche Verbesserungen im Quantifizierungsprozess in GDOES.

Mit ihrem ~20 % Wirkungsgrad sind hybride Perovskit-Solarzellen der neue vielversprechende Kandidat für die nächste Generation der Photovoltaik. Dank des großen HORIBA Scientific Portfolios können verschiedene Techniken genutzt werden, um tiefgehendes Wissen über die optoelektronischen Eigenschaften und Mechanismen dieser Materialklasse zu erlangen. In dieser Anwendungsnotiz haben wir beschlossen, spektroskopische Ellipsometrie, stationäre und zeitaufgelöste Fluoreszenz sowie Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy zu verwenden, um die Eigenschaften von CH3NH3PbI3-Dünnschichten zu untersuchen, die auf einem spin-beschichteten PEDOT:PSS aufgetragen werden. Die Auswirkungen der Luftexposition wurden thematisiert.

Die gepulste RF-Glow-Entladungs-Optische Emissionsspektrometrie bietet ultraschnelle elementare Tiefenprofilierung für die Untersuchung von dünnen und dicken Filmen. Dank der Verwendung einer gepulsten HF-Quelle in Kombination mit einem hochauflösenden optischen Spektrometer bietet der GD Profiler 2 eine ausgezeichnete Tiefenauflösung, die eine schnelle Bewertung der Beschichtungsqualität ermöglicht. In diesem Anwendungshinweis konzentrieren wir uns auf eine MoS2/Pb-Verbundprobe aus mehreren Schichten, die als Festschmiermittel verwendet wird. Die Analyse einer solchen Probe zeigt die hervorragende Leistung dieses Instruments zur Untersuchung von nm-dicken komplexen Beschichtungen.