Metais

Análise de pó metálico

Os pós metálicos são compostos por partículas metálicas finas e são conhecidos por sua excepcional versatilidade e eficiência em diversas aplicações, tornando-os cruciais em processos de fabricação avançados.

Suas características podem ser ajustadas por meio de um controle meticuloso da composição e do tamanho das partículas, permitindo a criação de pós especializados com atributos aprimorados, como melhor fluidez, compressibilidade e sinterabilidade.

Inovação constante e análise rigorosa são necessárias para aprimorar ainda mais essas propriedades:

  • Análise elementar: Determina a composição química exata dos pós metálicos, garantindo a presença dos elementos de liga corretos para atingir as características desejadas, como resistência, dureza e resistência à corrosão.
  • Análise de partículas: Avalia as características microestruturais dos pós metálicos, detectando inclusões e defeitos que podem afetar o desempenho, a densidade e as propriedades mecânicas.
  • Análise Estrutural: Avalia as propriedades mecânicas dos pós metálicos, incluindo resistência à tração, dureza e tenacidade, que são cruciais para garantir a confiabilidade e o desempenho do material em diversas aplicações.
  • Análise de Superfície: Examina as características da superfície de pós metálicos, determinando sua capacidade de resistir à degradação ambiental e à corrosão. Isso é particularmente importante para aplicações em condições severas, onde a integridade da superfície é crucial.

Recursos

notas de aplicação de pó metálico

Soluções HORIBA

HORIBA fornece instrumentos e soluções analíticas avançadas que auxiliam significativamente na análise de pós metálicos.

EMIA-Expert
EMIA-Expert

Analisador de carbono/enxofre
(Modelo de alta precisão, carro-chefe da linha)

EMGA-Expert (EMGA-30E/20E)
EMGA-Expert (EMGA-30E/20E)

Analisador de Oxigênio/Nitrogênio/Hidrogênio
(Modelo de alta precisão, carro-chefe da linha)

GD-Profiler 2™
GD-Profiler 2™

Espectrômetro de Emissão Óptica por Descarga Luminescente de Radiofrequência Pulsada

XGT-9000
XGT-9000

Microscópio Analítico de Raios X (Micro-XRF)

Partica LA-960V2
Partica LA-960V2

Analisador de Distribuição de Tamanho de Partículas por Dispersão de Laser

Série nanoPartica SZ-100V2
Série nanoPartica SZ-100V2

Analisador de nanopartículas

LabRAM Soleil
LabRAM Soleil

Espectroscópio Raman - Microscópio de Imagem Automatizado

SignatureSPM
SignatureSPM

Microscópio de varredura por sonda com assinatura química

Série SA-9600
Série SA-9600

Analisadores de área de superfície de gás em fluxo BET

EMIA-Pro
EMIA-Pro

Analisador de carbono/enxofre (modelo básico)

EMGA-Pro (EMGA-20P)
EMGA-Pro (EMGA-20P)

Analisador de Oxigênio/Nitrogênio (Modelo Básico)

ViewSizer 3000
ViewSizer 3000

Análise simultânea de rastreamento de nanopartículas multiespectrais (NTA)

MESA-50
MESA-50

Analisador de fluorescência de raios X

XploRA™ PLUS
XploRA™ PLUS

Espectrômetro MicroRaman - Microscópio Raman Confocal

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