Comprendre la composition des matériaux est essentiel au contrôle qualité, à la conformité et à l'innovation. Les solutions d'analyse élémentaire de HORIBA fournissent des informations précises et fiables sur la composition des matériaux, utiles à des secteurs tels que l'automobile, l'aérospatiale, l'électronique et les sciences de l'environnement.
De la détection des impuretés à l'optimisation des procédés, nos technologies vous permettent de respecter les normes réglementaires, d'améliorer vos performances et de réaliser des découvertes. HORIBA, forte de nombreuses années d'expérience et d'une assistance internationale, est votre allié fiable pour découvrir les aspects cachés et optimiser les capacités de vos matériaux et procédés.
Ensemble, nous illuminons l’invisible.
Le système de surveillance XRF en ligne de HORIBA est conçu pour l'analyse et le contrôle en temps réel des procédés de revêtement en continu. Cette technologie permet une mesure précise de l'épaisseur du matériau et de la concentration des éléments directement pendant la production, éliminant ainsi les analyses fastidieuses en laboratoire. Il s'intègre parfaitement aux systèmes existants, prend en charge les protocoles de communication standard et contribue à optimiser l'utilisation des métaux précieux, à réduire les déchets et à améliorer l'efficacité de la production.
La technologie XRF en ligne offre des avantages significatifs pour la mesure d'éléments nobles tels que le platine, l'iridium et d'autres, particulièrement utilisés dans la production de membranes de piles à combustible. Par exemple, elle permet une analyse non destructive en temps réel de la teneur en platine, garantissant un contrôle précis de la quantité de métal utilisée. Cela améliore non seulement la qualité et l'efficacité des piles à combustible, mais réduit également les coûts de matériaux en optimisant l'utilisation de ce métal précieux.
HORIBA fournit des solutions avancées pour l'analyse élémentaire, destinées à des industries telles que la surveillance environnementale, la métallurgie et les matériaux avancés.
Avec des technologies innovantes telles que le ICP-OES, la spectroscopie de décharge luminescente RF, les analyseurs de carbone/soufre et d'oxygène/azote/hydrogène et les systèmes XRF, HORIBA garantit précision et efficacité.
Des instruments comme le Ultima Expert et le GD-Profiler 2™ répondent à des défis spécifiques en matière de détection d'éléments traces, d'analyse en profondeur et d'intégrité des matériaux. Des instruments comme le EMIA Expert et le EMGA Expert sont économiques pour les analyses C/S et O/N/H. En garantissant la conformité aux normes et en fournissant des données fiables, HORIBA aide les industries à atteindre l'excellence analytique.
Découvrez leur gamme de produits pour transformer l’analyse élémentaire en un processus simplifié et efficace.
L'équipe EPI de l'Institut Lavoisier de Versailles (ILV, UMR CNRS-UVSQ 8180) mène des activités de recherche fondamentale et applicative s'appuyant sur l'électrochimie et les spectroscopies électroniques pour étudier en profondeur la physico-chimie des surfaces et des interfaces des matériaux et des dispositifs trouvant des applications dans des domaines variés tels que la micro ou l'optoélectronique, le photovoltaïque et le patrimoine culturel.
L'équipe EPI dispose d'un large réseau collaboratif avec des partenaires académiques et industriels, parmi lesquels l'IPVF (Institut Photovoltaïque d'Ile de France) depuis 2014, et supervise la caractérisation chimique des couches (absorbeurs, ETL, HTL, passivation…) et des cellules qu'ils élaborent.
M. Bouttemy, Ingénieur de recherche, Institut Lavoisier de Versailles, Versailles, France
En particulier, l'EPI a développé, en collaboration avec HORIBA une méthodologie spécifique pour répondre à la problématique de la caractérisation des interfaces enterrées dans les cellules solaires en couplant GDOES et XPS. Le GDOES permet d'atteindre rapidement les interfaces d'intérêt, tout en surveillant les couches traversées, et crée un cratère suffisamment grand pour réaliser directement une XPS à l'intérieur, puis un profilage XPS en profondeur.
Le XPS fournit des informations chimiques précises pour contrôler la qualité et les propriétés des interfaces et optimiser le processus de fabrication des cellules pour obtenir des performances accrues et une meilleure fiabilité.
D. Mercier, M. Bouttemy, J. Vigneron, P. Chapon, A. Etcheberry, “GD-OES and XPS coupling: A new way for the chemical profiling of photovoltaic absorbers”, Applied Surface Science 347 (2015) 799–807.
Prevent, Protect, Perfect with Advanced Analytical Solutions for Corrosion
Webinaire animé par Alice Stankova, Chef de Produit ICP-OES, HORIBA France SAS, et Patrick Chapon, Chef de Produit GDOES, HORIBA France SAS, le mardi 11 mars à 14h00 (GMT) ; 15h00 (CET)
À des fins de lutte contre la corrosion, différentes solutions analytiques avancées sont nécessaires pour prédire les défaillances, optimiser la durée de vie des matériaux et garantir la durabilité et la fiabilité des stratégies de protection dans des environnements exigeants.
Ce webinaire présente une gamme complète de solutions analytiques avancées pour le marché de la corrosion, conçues pour répondre aux complexités des processus de corrosion et des stratégies de protection.
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