Diamant

Analyse des diamants

D’où vient un diamant et pourquoi l’étudier ?

Les diamants jouissent d’un statut distingué, vénérés pour leur dureté, leur brillance et leurs propriétés uniques inégalées.

Structurellement, les diamants sont constitués d'atomes de carbone disposés en un réseau cristallin, formant un arrangement symétrique d'unités tétraédriques. Les diamants se forment principalement naturellement, par des processus géologiques dans le manteau terrestre qui s'étendent sur des millions d'années. Les progrès technologiques ont permis la production de diamants synthétiques par dépôt chimique en phase vapeur (CVD) ou par procédés haute pression et haute température (HPHT), offrant ainsi une alternative durable pour diverses applications.

Les diamants sont largement utilisés dans de nombreux domaines, notamment l'électronique, l'optique et la recherche innovante. Leur conductivité thermique et leur transparence optique​ ​exceptionnelles les rendent indispensables dans les dispositifs électroniques de forte puissance, tels que les substrats semi-conducteurs et les outils abrasifs, coupants et de polissage.

Alors que les chercheurs continuent d’explorer et d’exploiter les propriétés uniques des diamants, leur rôle durable en tant que pierre angulaire des matériaux avancés reste constant, stimulant l’innovation et façonnant l’avenir de la technologie et au-delà.

Ressources (en Anglais)

Notes d'application Diamond

Solutions HORIBA

Engagé dans l'innovation, HORIBA propose une gamme complète d'instruments de pointe pour la caractérisation des propriétés des diamants. De la spectroscopie Raman, révélant l'intégrité structurale et les impuretés, à la microscopie électronique à balayage couplée à la cathodoluminescence (MEB-CL) pour l'imagerie détaillée et la cartographie des propriétés optiques et électroniques, les solutions HORIBA permettent aux chercheurs et aux professionnels de l'industrie d'extraire des informations précieuses sur les diamants.

LabRAM Soleil
LabRAM Soleil

Raman Spectroscope - Automated Imaging Microscope

SignatureSPM
SignatureSPM

Scanning Probe Microscope with Chemical Signature

UVISEL Plus
UVISEL Plus

Spectroscopic Ellipsometer from FUV to NIR: 190 to 2100 nm

Cathodoluminescence - Série CLUE
Cathodoluminescence - CLUE Series

Cathodoluminescence Solutions for Electron Microscopy

DLC
DLC

Analyse automatisée des revêtements DLC

Semiconducteur LabRAM Odyssey
LabRAM Odyssey Semiconductor

Cartographie Raman et Photoluminescence de wafers

SmartSPM
SmartSPM

AFM autonome avancée

LabRAM Soleil Nano
LabRAM Soleil Nano

Nanoscopie corrélative directe en temps réel

XploRA™ PLUS
XploRA™ PLUS

MicroRaman Spectrometer - Confocal Raman Microscope

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