Dans le domaine des matériaux avancés, les métaux primaires sont essentiels pour des secteurs tels que l'aérospatiale, l'automobile, l'électronique et les dispositifs médicaux. Garantir la qualité et la performance de ces métaux nécessite des analyses approfondies.
L'analyse élémentaire des métaux implique une série de techniques avancées pour déterminer la composition, la distribution et le profil de profondeur des éléments dans les échantillons métalliques, fournissant des informations essentielles pour les applications en science des matériaux, en fabrication et en contrôle qualité.
La méthode d'analyse par rayons X (XRF) est excellente pour l'analyse quantitative simultanée de plusieurs éléments, non destructive et rapide. Complémentaire à la spectroscopie infrarouge non dispersive (NDIR), elle permet la détermination très sensible d'éléments spécifiques (principalement le carbone, le soufre, l'hydrogène et l'oxygène).
En fournissant des informations détaillées sur la distribution des éléments en fonction de la profondeur, la spectroscopie d'émission optique à décharge luminescente (GDOES) est idéale pour l'analyse des oligo-éléments et l'analyse des revêtements métalliques, et aide à comprendre les propriétés des matériaux, à améliorer les processus de fabrication et à garantir le contrôle qualité.
L'analyse élémentaire monopoint, multipoint et l'analyse de cartographie élémentaire peuvent être réalisées à l'aide du µ-XRF, qui focalise les rayons X et permet l'analyse élémentaire de petites zones.
Les analyseurs de caractérisation des particules (PCA) fournissent des mesures précises de la distribution granulométrique, essentielles pour comprendre les propriétés d'écoulement et le comportement de frittage des poudres métalliques.
La spectroscopie Raman et d’autres techniques spectroscopiques peuvent être utilisées pour analyser la structure cristalline et la microstructure des oxydes métalliques et des complexes métalliques qui se distinguent facilement par leurs spectres caractéristiques.
La microscopie à force atomique (AFM) peut évaluer la rugosité de la surface, les revêtements et les traitements pour garantir une adhérence adéquate, une résistance à la corrosion et l'intégrité globale de la surface.
HORIBA fournit des instruments et des solutions d’analyse avancés qui aident considérablement à l’analyse des métaux.
Analyseur de carbone/soufre
(modèle haute précision)
Analyseur d'oxygène/azote/hydrogène
(modèle haute précision)
Spectromètre d'émission optique à décharge luminescente RF pulsée
Microscope d'analyse X (Micro-XRF)
Granulomètre par diffusion laser
Analyseur de nanoparticules
Spectroscope Raman - Microscope d'imagerie automatisé
Scanning Probe Microscope with Chemical Signature
BET Flowing Gas Surface Area Analyzers
Analyseur de carbone/soufre (modèle d'entrée de gamme)
Analyseur d'oxygène/azote (modèle d'entrée de gamme)
Simultaneous Multispectral Nanoparticle Tracking Analysis (NTA)
X-Ray Fluorescence Analyzer
Spectromètre Micro-Raman - Microscope Raman Confocal
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