Semiconducteurs

Matériaux 2D

Un matériau 2D est défini comme un matériau cristallin constitué d'une seule couche cellulaire unitaire. Le graphène et les dichalcogénures de métaux de transition (TMDC) suscitent notamment l'intérêt en tant que matériaux semi-conducteurs de nouvelle génération. Lorsqu'ils sont utilisés comme semi-conducteurs, une analyse structurale précise est essentielle, car leur structure cristalline et leur cristallinité influencent grandement leurs performances.
 

Analyse structurelle | Épaisseur et qualité des films | Analyse des défauts cristallins | Détection/analyse de corps étrangers

Analyse structurelle

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Mesures AFM-TERS en milieu liquide avec éclairage/collecte latérale
Mesures AFM-TERS en milieu liquide avec éclairage/collecte latérale
Cette note d'application révèle les détails instrumentaux clés pour réussir les mesures TERS dans les liquides en utilisant une géométrie d'éclairage/collection latérale. Cette capacité vise à réaliser des avancées majeures dans de nombreuses applications telles que la catalyse hétérogène, l'électrochimie, la biologie cellulaire et les biomatériaux. Cette note présente l'imagerie chimique à l'échelle nanométrique de paillettes d'oxyde de graphène et de nanotubes de carbone immergés dans l'eau avec une résolution TERS allant jusqu'à 20 nm, ainsi que de véritables images AFM sans contact.
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Caractérisation TERS des nanorubans de graphène
Caractérisation TERS des nanorubans de graphène
Cette note d'application présente la nanocaractérisation TERS de nanorubans de graphène (GNR) fabriqués par lithographie par faisceau d'électrons. La nanorésolution chimique obtenue par TERS révèle la présence de carbone amorphe aux bords des GNR et localise les résidus organiques. TERS peut être considérée comme un outil précieux pour la caractérisation du graphène nanostructuré, une étape essentielle au développement de nanodispositifs à base de graphène.
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TERS et KPFM corrélés des flocons d'oxyde de graphène
TERS et KPFM corrélés des flocons d'oxyde de graphène
L'AFM-Raman et son mode TERS permettent de visualiser la cartographie de surface à l'échelle nanométrique des défauts structuraux et des groupes chimiques sur des feuillets d'oxyde de graphène (GO) avec une résolution spatiale de 10 nm. La méthodologie de mesure multiparamétrique proposée dans cette note étend les capacités du TERS en permettant une corrélation directe de la composition chimique locale et des propriétés physiques à l'échelle nanométrique, non seulement pour les matériaux 2D, mais aussi pour la quasi-totalité des surfaces d'échantillons.
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Un flocon de MoS2 : l'image de décalage TEPL dérivée de l'ajustement du pic PL via une analyse de régression.
Caractérisation des flocons de MoS2 à l'aide de TEOS
Les images TEPL et TERS sont bien corrélées avec les images morphologiques AFM obtenues simultanément, et toutes révèlent la nature (nombre de couches) des feuillets de MoS2 de manière cohérente. Après déconvolution, le signal TEPL est même capable de révéler des inhomogénéités locales au sein d'un feuillet de MoS2 de 100 nm. La mesure par sonde Kelvin prend en charge les mesures TEPL et TERS et renforce la puissance de ces outils combinatoires à pointe améliorée.
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Caractérisation des nanotubes de carbone par spectroscopie Raman à pointe exaltée (TERS)
Caractérisation des nanotubes de carbone par spectroscopie Raman à pointe exaltée (TERS)
L'utilisation de TERS pour révéler la densité de défauts dans la structure des nanotubes de carbone (NTC) est intéressante pour une meilleure compréhension des propriétés électriques des dispositifs fabriqués à partir de ces nano-objets. La spectroscopie TERS permet d'étudier non seulement la concentration de défauts, mais aussi les variations locales de chiralité dues aux différents modes de respiration radiale, à l'effet de la pression et à la distribution des contraintes à l'échelle du nanotube de carbone.
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Caractérisation des lanthanides dans les verres pour applications optiques
Les verres sont des matériaux essentiels aux multiples utilisations et aux formes multiples. En optoélectronique, il existe un intérêt pour modifier la composition des verres afin de favoriser l'incorporation de lanthanides. Leur stabilité et leurs propriétés de luminescence permettent de fabriquer des matériaux optiques, tels que des amplificateurs large bande, des lasers et des dispositifs optiques non linéaires. Les télécommunications constituent un domaine d'intérêt majeur.

Épaisseur et qualité du film

Dans le cadre de l'avancement de la technologie des films minces grâce à la miniaturisation, nous proposons des solutions permettant d'obtenir un contrôle élevé du dépôt de films, comme l'évaluation in situ pendant le processus de dépôt de films et l'évaluation des films minces au niveau de l'ordre d'Ångström.


Informations sur la membrane obtenues à l'aide d'un ellipsomètre spectroscopique

Analyse des défauts cristallins

La réduction des défauts et le contrôle précis des impuretés sont devenus de plus en plus importants dans les dispositifs semi-conducteurs destinés aux communications haut débit. Nous présenterons des cas d'analyse illustrant ce point.

Détection/analyse d'objets étrangers

Les défauts dans les plaquettes peuvent également être causés par des corps étrangers, et nous présenterons une méthode d'analyse élémentaire microscopique pour identifier la cause des défauts.

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