FCV 氫氣中雜質的監測

• 無法測量超低濃度的雜質。
• 希望進行連續監測而不是批量測量。
• 希望優先監測一氧化碳 (CO) 的純度，以監測氫氣本身的品質並確定 PSA 性能。

   *PSA: Pressure Swing Adsorption

HORIBA 的 GA-370 微量氣體分析儀可以高靈敏度連續測量氫氣中的雜質。它可以以最低 10 ppb 的檢測靈敏度和 0 至 1 ppm 的低量程穩定測量 CO 等導致中毒的主要原因。 GA-370 還可以使用一個裝置同時測量多達兩種成分，例如 CO 和 CH4。這將有助於了解 PSA 的性能以及更換內部催化劑的時機。

特點

• 採用 HORIBA 獨特的測量技術（錯流調製雙光束非色散紅外線 (NDIR) 技術）提高了穩定性 紅外線系統的最低檢測靈敏度為10 ppb。
• 可以進行低量程測量（0-1、2、5 或 10 ppm）。
• 它能夠測量 CO、CH4 和 CO2 中的最多兩種成分

• 氫氣製造廠的氫氣品質控制

微量氣體分析儀GA-370透過監測氫氣中產生的雜質中CO、CO2和CH4的濃度來控制高純氫氣的品質。

• 氫氣純化過程中 PSA 的製程監控

在PSA製造過程中，GA-370即時監測雜質濃度。它有助於氫氣品質控制和降低製造成本。

• 現場加氫站氫氣品質管制

與氫氣生產裝置類似，GA-370在現場加氫站監測氫氣製造設備中產生的雜質中CO、CO2、CH4的濃度。掌握這些濃度非常重要，因為它們會劣化車輛的燃料電池。

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