• Référence : ELL2
  • Dates:

    • 19 - 21 mars 2018
    • 13 - 15 novembre 2018

  • Participants: Utilisateurs expérimentés. Il est nécessaire d’avoir un niveau de connaissances équivalent à la formation ELL1
  • Durée: 3 Jours  (9h - 17h 30, 21 heures)
  • Lieu: Palaiseau

Maîtriser les techniques de mesure et de modélisation associées à l’analyse d’échantillons transparents, anisotropes, de plusieurs échantillons présentant des propriétés communes, et de matériaux inconnus. Les participants sont invités à amener leurs échantillons.

Jour 1

Session pratique sur des échantillons nonidéaux : Mesures et modélisation

  • Rappels théoriques
  • Modélisation des couches à gradients
  • Analyse de films épais > 2 µm
  • Epaisseur d’échantillon non uniforme
  • Etude d’échantillon dépolarisant

Jour 2

Travaux pratiques sur des échantillons nonidéaux

  • Analyse de données ellipsométriques et de transmission pour des échantillons de films
    métalliques fins
  • Anisotropie : apprendre à identifier l’axe d’orientation pour des mesures de modélisation
    appropriées  

Jour 3

Travaux pratiques - Echantillons des participants

Utilisateurs expérimentés. Il est nécessaire d’avoir un niveau de connaissances équivalent à la formation ELL1.