Applications

QC of Semiconductors which Feature Thin and Narrow Patterns

The combination of microbeam and thickness measurement capability makes the XGT-9000 a useful tool for the QC of semiconductors, which feature thin and narrow patterns. Thickness sensitivity depends on elements traced, but can be at the Angstrom level.

Запросить информацию

У вас есть вопросы или пожелания? Используйте эту форму, чтобы связаться с нашими специалистами.

Browse Products

XGT-9000
больше XGT-9000

X-ray Analytical Microscope (Micro-XRF)

Corporate