
| Nom du produit | Analyseur continu de particules avec fluorescence X |
|---|---|
| Modèle | PX-375 |
| Objet mesuré | Particules en suspension (PM10, PM2,5, TSP) |
| Contenu de mesure | Concentration massique des particules et concentration des éléments |
Commun
| Débit | 16,7 L/min |
|---|---|
| Pompe d'échantillonnage | Système d'entraînement linéaire, installé à l'extérieur |
| Bande filtrante | Filtre en tissu PTFE non tissé |
| Intervalle de la bande Spot | 20 / 25 / 50 / 100 mm sélectionnable |
| Intervalle de remplacement de la bande filtrante | Environ 5 mois (dans le cas d'un intervalle de 20 mm entre les points, temps d'échantillonnage de 1 heure) |
| Température ambiante de fonctionnement | 10˚C~30˚C |
| Humidité relative | 0 à 80 % d'humidité relative sans condensation |
| Altitude | 1000 m ou moins |
| Alimentation électrique | AC100V~240V ±10%, 50/60Hz±1% |
| Consommation d'énergie | Environ 400 VA |
| Dimensions extérieures | 430 mm (L) × 550 mm (P) × 285 mm (H) (sans tube d'échantillonnage ni tête de mesure) |
| Poids | Environ 49 kg |
| Sortie de données | Fichier CSV (Masse moyenne des PM et concentration élémentaire) |
| Connexion externe | Ethernet TM, USB, RS-232C* (en option) |
*Veuillez nous consulter séparément concernant la communication et la composition instrumentale.
Unité d'analyse de masse
| Méthode de mesure | Atténuation des rayons bêta |
|---|---|
| PM10 | Prise d'air à persiennes pour PM 10 de l'EPA américaine |
| PM 2,5 | Cyclone BGI VSCC TM |
| TSP | Entrée TSP |
| Plage de mesure | 0~200 / 500 / 1000 μg/ m³ |
| Répétabilité | ±2% (par rapport à la valeur de référence de la feuille) |
| Dérive de plage de mesure | ±3 % (24 h) |
| Limite de détection la plus basse (2σ) | ±4 μg/ m³ (24 h) |
| Cycle d'échantillonnage et de mesure | 0,5 / 1 / 2 / 3 / 4 / 6 / 8 / 12 / 24 heures |
unité d'analyse élémentaire
| Méthode de mesure | spectrométrie de fluorescence X à dispersion d'énergie |
|---|---|
| Éléments détectables | Voir le tableau 1 « Éléments détectables ». 32 paramètres standards : Al, Si, S, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Pb, Ga, Ge, Y, Pd, Ag, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ce, Bi |
| Filtre à rayons X primaire | Commutation automatique pour métaux légers/métaux lourds |
| Tension du tube | Commutation automatique pour 15 kV/50 kV |
| Détecteur | SDD (Détecteur de dérive de silicium) |
| Exemple d'image | Caméra CMOS |
| Limite de détection la plus basse (2σ) | Voir le tableau 2 « Limite de détection la plus basse (exemple) » |
| Plage de mesure | dépend du temps de mesure |
| Temps d'analyse | 100 / 200 / 500 / 1000 / 2000 / 5000 / 10000s sélectionnable |
| Matériau d'étalonnage pour l'intensité des rayons X pour un paramètre standard | NIST SRM 2783, autres matériaux (option) |
| Fonctions de sécurité pour les rayons X | Système de verrouillage interne interrupteur à clé Voyant indicateur de rayons X |
Particules noires
| Méthode de mesure | spectrométrie de fluorescence X à dispersion d'énergie |
|---|---|
| Objet mesuré | Particules de couleur noire |
| Détecteur | Caméra CMOS |
| source lumineuse | DIRIGÉ |
| Plage de mesure de la PA | 0-200 |
| Limite de détection la plus basse | <5 valeur BP |
| Dérive de plage de mesure | Valeur de la PA : ±2 % (24 h) |
| Intervalle de la bande Spot | 25 mm seulement |
| Cycle d'échantillonnage | Suivre le réglage de la mesure de la masse et de l'élément |
| Répétabilité | ±2 % de la pleine échelle (typique), ±3 % de la pleine échelle (maximum) |
| Matériel d'étalonnage | Filtre à densité neutre |





