
| 제품 이름 | 미세먼지(PM) & 중금속 분석기 |
|---|---|
| 모델 | PX-375 |
| 측정 대상 | 미세먼지(PM10, PM2.5, TSP) |
| 측정 내용 | 입자 질량 농도 및 원소 농도 |
공통
| 유량 | 16.7L/min |
|---|---|
| 샘플링 펌프 | 선형 구동 시스템, 외부 설치 |
| 필터 테이프 | 비직포 PTFE 패브릭 필터 |
| 스팟 테이프 간격 | 20 / 25 / 50 / 100mm 선택 가능 |
| 필터 테이프 교체 주기 | 약 5개월 (20mm 스팟 간격, 샘플링 시간 1시간의 경우) |
| 주변 작동 온도 | 10도~30도 |
| 상대 습도 | 0~80% RH (비응축 조건) |
| 고도 | 1000m 이하 |
| 전원 공급 | AC100V~240V ±10%, 50/60Hz±1% |
| 소비 전력 | 약 400VA |
| 외형 치수 | 430mm(폭)×550mm(깊이)×285mm(높이) (샘플링 파이프 및 측정 헤드 제외) |
| 무게 | Approx. 49kg |
| 데이터 출력 | CSV 파일(평균 PM 질량 및 원소 농도) |
| 외부 통신 | 이더넷 TM, USB, RS-232C* (옵션) |
*통신 방식 및 장비 구성과 관련하여 별도로 상담해 주시기 바랍니다.
질량 분석기
| 측정방법 | 베타선 감쇠법 |
|---|---|
| 미세먼지 (PM10) | US EPA 루버형 설계(Louvered) PM10인입단 |
| 초미세먼지(PM2.5) | BGI VSCC TM 사이클론 |
| 총부유먼지(TSP) | TSP 인입단 |
| 측정 범위 | 0~200 / 500 / 1000μg/ m3 |
| 반복성 | ±2% (기준 호일 값에 대하여) |
| 스팬 드리프트 | ±3% (24시간) |
| 최저 검출 한계(2σ) | ±4μg/m 3 (24시간) |
| 샘플링 및 측정 주기 | 0.5 / 1 / 2 / 3 / 4 / 6 / 8 / 12 / 24시간 |
원소 분석기
| 측정방법 | 에너지 분산형 X선 형광 분광법 |
|---|---|
| 검출 가능한 원소 | 표 1 "검출 가능한 원소"를 참조하세요. 32가지 기본 원소 : Al, Si, S, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Pb, Ga, Ge, Y, Pd, Ag, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ce, Bi |
| 1차 X선 필터 | 경금속/중금속 자동전환 |
| X선 튜브 전압 | 15kV/50kV 자동 스위칭 |
| 디텍터 | SDD(실리콘 드리프트 디텍터) |
| 샘플 이미지 | CMOS 카메라 |
| 최저 검출 한계(2σ) | 표 2 "최저 검출 한계(예)"를 참조하세요. |
| 측정 범위 | 측정 시간에 따라 다릅니다 |
| 분석 시간 | 100 / 200 / 500 / 1000 / 2000 / 5000 / 10000초 선택 가능 |
| 기본 원소에 대한 X선 강도 교정 물질 | NIST SRM 2783, 기타 자료(옵션) |
| X-ray에 대한 안전 기능 | 내부 잠금 시스템 키 스위치 X선 표시등 |
검은색 입자
| 측정방법 | 에너지 분산형 X선 형광 분광법 |
|---|---|
| 측정 대상 | 검은색의 입자상 물질 |
| 디텍터 | CMOS 카메라 |
| 광원 | LED |
| BP 측정 범위 | 0-200 |
| 최저 검출 한계 | <5 BP 값 |
| 스팬 드리프트 | BP 값: ±2% (24시간) |
| 스팟 테이프 간격 | 25mm |
| 샘플링 주기 | 질량 및 원소 측정 설정을 따르세요 |
| 반복성 | 전체 범위의 ±2%(일반), 전체 범위의 ±3%(최대) |
| 교정재료 | 중성 밀도 필터 |




