Applications

Characterization of photovoltaic devices

by Spectroscopic Ellipsometry

This application illustrates the ability of the technique to characteriza photovolatic devices. The materials commonly studied include: amorphous silicon, poly silicon, ZnO, ITO, SNO2, TiO2, SiNx, MgO, etc...

Related Products

UVISEL Plus
UVISEL Plus

Spectroscopic Ellipsometer from FUV to NIR: 190 to 2100 nm

Wniosek o udzielenie informacji

Masz pytania lub prośby? Skorzystaj z tego formularza, aby skontaktować się z naszymi specjalistami.

* Te pola są obowiązkowe.

Corporate