En el ámbito de los materiales avanzados, los metales primarios son fundamentales en campos como la aeroespacial, la automoción, la electrónica y los dispositivos médicos. Garantizar la calidad y el rendimiento de estos metales requiere un análisis exhaustivo.
El análisis elemental de metales implica un conjunto de técnicas avanzadas para determinar la composición, distribución y perfil de profundidad de los elementos dentro de muestras de metal, proporcionando información crítica para aplicaciones en ciencia de materiales, fabricación y control de calidad.
El método de análisis por rayos X (XRF) es excelente para el análisis cuantitativo simultáneo de múltiples elementos y es no destructivo y rápido. Este método es complementario con la Espectroscopía Infrarroja No Dispersiva (NDIR), que es adecuado para la determinación altamente sensible de elementos específicos (principalmente carbono, azufre, hidrógeno y oxígeno).
Al proporcionar información detallada sobre la distribución de los elementos en función de la profundidad, la Espectroscopía de Emisión Óptica por Descarga de Brillo (GDOES) es ideal para el análisis de elementos traza y recubrimientos metálicos, y ayuda a comprender las propiedades de los materiales, mejorar los procesos de fabricación y garantizar el control de calidad.
El análisis elemental de un solo y multipunto y el análisis de mapeo elemental pueden realizarse usando μ-XRF, que enfoca los rayos X y permite el análisis elemental de áreas pequeñas.
Los Analizadores de Caracterización de Partículas (PCA) proporcionan mediciones precisas de la distribución del tamaño de las partículas, esenciales para comprender las propiedades de flujo y el comportamiento de sinterización de los polvos metálicos.
La espectroscopía Raman y otras técnicas espectroscópicas pueden utilizarse para analizar la estructura cristalina y microestructura de óxidos metálicos y complejos metálicos, que se distinguen fácilmente por sus espectros característicos.
La Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) puede evaluar la rugosidad superficial, los recubrimientos y los tratamientos para garantizar la adhesión adecuada, la resistencia a la corrosión y la integridad general de la superficie.
HORIBA proporciona instrumentos analíticos avanzados y soluciones que ayudan significativamente en el análisis de metales.
Analizador de Carbono/Azufre
(Modelo Insignia de Alta Precisión)
Analizador de Oxígeno/Nitrógeno/Hidrógeno
(Modelo Insignia de Alta Precisión)
Espectrómetro de emisión óptica de descarga luminosa por radiofrecuencia pulsada
Microscopio analítico de rayos X (Micro-XRF)
Analizador de Distribución de Tamaño de Partículas por Difracción Láser
Analizador de Nanopartículas
Espectroscopio Raman - Microscopio de imágenes automatizado
Microscopio de sonda de barrido con firma química
Analizadores de Superficie de Gas en Flujo BET
Analizador de carbono/azufre (modelo básico)
Analizador de oxígeno y nitrógeno (modelo básico)
Análisis Simultáneo de Seguimiento Multiespectral de Nanopartículas (NTA)
Analizador de fluorescencia de rayos X
Espectrómetro MicroRaman - Microscopio Raman Confocal
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