256 × 256 puntos adquirieron simultáneamente imagen topográfica (derecha) y mapa Raman compuesto (izquierda) del grafeno.
El análisis Raman y AFM (Microscopio de Fuerza Atómica) pueden combinarse en un único sistema de microscopio, abriendo nuevas capacidades interesantes y proporcionando información mejorada sobre la composición y estructura de la muestra al recopilar datos físicos y químicos en la misma área muestral. La medición AFM-Raman colocalizada es la adquisición secuencial o simultánea de mapas solapados de SPM (Microscopio de Sonda de Escaneo) y Raman con correspondencia píxel a píxel en las imágenes.
Por un lado, AFM y otras técnicas de SPM como STM, Fuerza de Cizallamiento o Fuerza Normal proporcionan propiedades topográficas, mecánicas, térmicas, eléctricas y magnéticas hasta la resolución molecular (~ nm, sobre el área de μm 2); por otro lado, la espectroscopía y imagen confocal Raman proporciona información química específica sobre el material, con resolución espacial limitada por difracción (submicron).
