La configuration du microscope inversé sur axe est idéale pour les échantillons transparents : elle permet l'utilisation d'objectifs à très grande ouverture numérique (NA) pour l'imagerie Raman confocale.
Il existe deux configurations différentes pour le couplage optique TERS : une en transmission et une en réflexion. La configuration en réflexion peut être divisée en deux configurations, une par le haut et une par le côté, chacune présentant ses avantages et ses inconvénients.
La configuration du microscope inversé sur axe est idéale pour les échantillons transparents : elle permet l'utilisation d'objectifs à très grande ouverture numérique (NA), y compris des objectifs à immersion dans l'huile, pour l'imagerie Raman confocale.
L'espace au-dessus de l'échantillon est libre pour les expériences SPM, incluant la microscopie à force atomique (AFM), la microscopie à effet tunnel (STM) et d'autres modes SPM courants, dans l'air, dans un liquide ou dans des environnements spéciaux.
Cette configuration permet une imagerie SPM et Raman confocale simultanée et offre les meilleures performances spectroscopiques pour le TERS sur des échantillons transparents en utilisant une polarisation radiale sur le faisceau laser.
La configuration verticale permet des mesures simultanées SPM et Raman spectroscopiques lors de l'utilisation de pointes saillantes et d'objectifs à ouverture numérique élevée (jusqu'à 0,7 NA).
La configuration verticale permet des mesures simultanées SPM et Raman spectroscopiques (y compris TERS) avec des pointes saillantes (pointes AFM triangulaires à l'extrémité du levier) et des objectifs à ouverture numérique élevée (jusqu'à 0,7). L'imagerie SPM avec un plus large choix de sondes et l'imagerie confocale Raman avec des objectifs à ouverture numérique très élevée (jusqu'à 0,95) peuvent également être réalisées séquentiellement au même endroit. Cette configuration est optimisée pour les mesures haute résolution colocalisées sur des échantillons opaques, mais permet également des mesures TERS avec des pointes saillantes.
L'éclairage oblique est conçu pour les expériences Raman à pointe améliorée avec une grande variété de sondes SPM sur des échantillons opaques.
L'éclairage oblique est conçu pour les expériences Raman à pointe améliorée avec une grande variété de sondes SPM sur des échantillons opaques.
Le dispositif intègre un objectif à grande ouverture numérique (NA) et longue distance de travail (jusqu'à 0,7 NA) à un angle optimal (60°). Il dirige le faisceau laser vers la pointe avec une orientation de polarisation idéale pour l'amplification TERS (polarisation p) et assure une efficacité de collecte maximale en éliminant l'ombre du levier de la sonde de balayage.
Cette configuration est optimisée pour l'imagerie en champ proche (TERS) sur échantillons opaques. Elle permet également l'imagerie AFM et Raman confocale simultanées ; cependant, la géométrie limite intrinsèquement la résolution spatiale en champ lointain, meilleure dans la configuration verticale.
Configuration optique multiport pour AFM-Raman et TERS :
Les systèmes AFM-Raman HORIBA offrent une grande polyvalence grâce à la combinaison de plusieurs configurations optiques. Par exemple, une configuration à double port avec éclairage oblique optimisé pour la spectroscopie TERS et microscope vertical pour l'imagerie spectroscopique haute résolution en champ lointain offre les meilleures performances pour les mesures séquentielles colocalisées et TERS sur échantillons opaques.
Un autre type de système à double port avec éclairage descendant et capacité inversée fournit une plate-forme pour les mesures TERS et colocalisées d'échantillons opaques et transparents.
Et enfin, une configuration à trois ports rassemble toutes les configurations possibles dans une plate-forme unique et offre le système le plus polyvalent pour des performances maximales.
