Image topographique acquise simultanément en 256 × 256 points (à droite) et carte Raman composite (à gauche) du graphène.
L’analyse Raman et AFM (Microscope à Force Atomique) peuvent être combinées sur un même système de microscope, ouvrant ainsi de nouvelles possibilités intéressantes et offrant des informations plus complètes sur la composition et la structure des échantillons, grâce à la collecte simultanée de données physiques et chimiques sur une même zone d’analyse. La mesure AFM-Raman colocalisée consiste en l'acquisition séquentielle ou simultanée de cartes SPM (microscope à sonde à balayage) et Raman superposées, avec une correspondance pixel à pixel dans les images.
D'une part, l'AFM et d'autres techniques SPM comme le STM, le Shear-Force ou le Normal-Force, fournissent des propriétés topographiques, mécaniques, thermiques, électriques et magnétiques jusqu'à la résolution moléculaire (~ nm, sur des zones de quelques μm2), d'autre part, la spectroscopie et l'imagerie Raman confocales fournissent des informations chimiques spécifiques sur le matériau, avec une résolution spatiale limitée par la diffraction (sub-micron).
