电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）

电感耦合等离子体发射光谱技术(ICP‑OES) 可为液体样品及部分固体（如配备专用附件可分析石墨等）提供高灵敏度元素分析。该方法特别适用于复杂基质（卤水、稀土元素等）中痕量元素的检测，具有高精度和宽动态范围的特点，广泛应用于化学、冶金、能源等领域。

Ultima Expert 高性能 ICP 光谱仪

射频辉光放电光谱仪

辉光放电发射光谱技术(GDOES)能够对固体材料进行深度解析分析，测量元素浓度随深度的变化。GDOES 仪器在大学中用于促进具有纳米级及以上涂层的材料开发，在工业中则用于监测光伏器件制造、探究腐蚀成因、评估贵金属成分、控制硬盘或 LED 生产，以及改进锂电池等。

GD-Profiler 2™ 辉光放电分析仪

X 射线荧光分析仪

HORIBA X 射线荧光 (XRF) 系统可对固体、粉末和液体进行无损元素分析，最小可检测 10 微米的颗粒。自动化扫描功能支持 10 厘米×10 厘米范围内的精细区域测绘。该系统在电子、采矿、电池与燃料电池及回收等行业中表现卓越，能快速提供经济高效的成分分析。在科研应用方面，XRF 凭借高灵敏度过渡金属检测能力和毫米级测绘功能，某些情况下性能甚至优于 SEM-EDX。

XGT-9000 微区 X 射线荧光分析仪

碳/硫分析仪

EMIA 系列分析仪可精确测量无机固体样品中的碳硫含量，对于钢铁及金属生产、大规模金属精炼以及陶瓷行业的质量控制至关重要。该系列分析仪以高灵敏度、精确测量和用户友好操作为特点，确保材料完整性并符合标准法规要求。

EMIA-Expert 高频红外碳/硫分析仪

氧/氮/氢分析仪

HORIBA EMGA 系列专为测量金属及无机固体材料中的氧、氮和氢含量而设计。该仪器凭借高灵敏度、精确度及用户友好操作特性，广泛应用于冶金（粉末与碎屑）、陶瓷及先进材料行业，确保材料完整性并符合标准规范要求。

EMGA-Expert 氧/氮/氢分析仪

油中硫分析仪

HORIBA 提供专用于测量油品、燃料及润滑油中硫含量的硫分析仪。这些仪器有助于确保符合环境法规（例如 ASTM D4294 和 ISO 8754 标准）中关于燃料硫含量的限值规定，广泛应用于石化、汽车及航空工业领域。该设备还可检测低浓度氯元素以防止管道腐蚀（符合 ASTM D4929 标准）。

SLFA-60 X 射线荧光硫分析仪