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AFM光学工作站

专业耦合各类光谱仪

AFM光学工作站允许将共焦拉曼显微镜和AFM完美耦合,用于针尖增强光学光谱,例如针尖增强拉曼光谱(TERS)和针尖增强光致发光(TEPL),也可以用于真正的同区域AFM-Raman测量。

多模式的AFM(原子力显微镜)技术借助于拉曼光谱仪中的任何激光源或其他外部照明(例如,太阳模拟器或其他可调或连续光源)来研究材料的形貌学、电学和力学特性。TERS和TEPL可以提供纳米尺度的化学和结构信息,使AFM-Raman平台成为一条双向互补的技术,为彼此提供新颖独特的成像能力。

AFM-Raman 报告视频

AFM-Raman, TERS, NSOM等纳米光谱学解决方案

HORIBA业界领先的拉曼技术现已与原子力显微镜(AFM)完美耦合。这样,一个多功能的仪器中实现了更全面的样品表征,实现快速原位同区域AFM-Raman测量、针尖增强拉曼光谱(TERS)和针尖增强光致发光(TEPL)。

纳米拉曼光谱仪网络研讨会

针尖增强光谱和SPM相关技术

我们将在本次网络研讨会上展示新的纳米成像功能。针尖增强光谱(TEOS),如TERS(针尖增强拉曼)和TEPL(针尖增强荧光)为分子、一维和二维材料、半导体纳米结构和生物材料的表征提供了独特的能力。

技术及常见问题答疑

AFM-Raman (同区域测量和TERS)

 TERS将拉曼光谱引入纳米级分辨率成像。进一步了解这种超分辨率化学成像技术。

 

典型用户反馈

来自客户的肯定

文献参考

访问AFM-Raman用户出版物列表,了解TERS和TEPL是如何产生高科学影响力的。



 

用户培训班

我们的培训师是原子力显微镜-拉曼技术方面的专家。在他们的培训建议和指导下,您将可以充分利用您的HORIBA科学仪器;同时在样品分析中您将获得信心和经验。 

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