纳米颗粒追踪分析技术

其能够处理多分散样品中不同尺寸纳米粒子共存时产生的极大动态范围散射光强度。这一技术成就是通过将智能软件与先进光学系统和多光源相结合实现的。HORIBA 仪器公司的 ViewSizer™ 3000 技术是一种可靠的绝对测量方法，无需校准标准或了解颗粒材料属性（如折射率）。

其他光散射技术的测试结果通常因这种严重不成比例的散射光强度而产生显著伪影和不确定性。问题在于较大颗粒产生的极高强度散射光会淹没典型检测系统，从而掩盖样品中共存其他颗粒的分析。

采用不同波长的复数光束形成单一光片，用于液体样品中纳米粒子的照明。探测器被配置用于捕捉纳米粒子散射的光斑图像，随时间记录这些图像以形成视频。通过分析视频计算每个被追踪纳米粒子的布朗扩散系数，最终确定其直径。综合数据可揭示纳米粒子在预设尺寸区间内的分布情况。

针对这一广泛散射光强度范围的解决方案包括：

• 多波长光源系统
• 可同步独立追踪颗粒散射光的检测系统
• 用于控制系统并逐颗粒分析散射光的软件

通过这些创新，ViewSizer 将亚微米颗粒散射光强度这一原本难以处理的动态范围划分为离散且可管理的区段。借助 ViewSizer，用户能够可视化纳米颗粒，并测量包含多种粒径范围的纳米颗粒样品的粒径分布。该功能还提供额外优势，例如可测量颗粒动力学过程。

ViewSizer 专有的多光谱照明与检测技术为荧光颗粒分析领域带来了独特能力。用户首次能够在相同粒径分布下对同一样本中的不同成分进行定量分析。图中重叠的粒径分布曲线展示了 ViewSizer 如何测定三种成分各自的浓度及其在混合物中的占比百分比——这堪称纳米颗粒领域的流式细胞技术。

同步可视化宽粒径范围的纳米颗粒。这项独特技术通过简单的液体颗粒测试，即可实现包括纳米颗粒粒径分布精确测定和纳米颗粒动力学过程分析在内的多种优势。

在大多数应用中，生产特定尺寸范围内的纳米颗粒至关重要。若测量技术无法提供准确的粒径分布数据，则难以通过工艺调控来增加目标颗粒产量并减少不合格颗粒。同理，若无法测定颗粒浓度，则工艺产率优化将举步维艰。若要研究颗粒动力学过程，则需获得精确的粒径分布（PSD）测量数据和/或颗粒随时间变化的可视化结果。这些需求贯穿纳米颗粒商业化的全流程——从研发到生产制造都至关重要。