XRF

X射线荧光光谱仪(XRF)

HORIBA’s XGT系统提供了高性能的能量色散X射线荧光分析(EDXRF)。专利XGT(X射线导管)技术(专利号:JPWO2018110260;国际专利分类 G01N 23/223) 结合传统的X射线荧光分析技术实现了对微区的分析,X射线导管尺寸直径从3mm到最小的10μm保证了分析灵活性,可以进行定性和定量分析,也可以对单个微观颗粒进行分析,同时成像功能提供了元素分布的细节图像。

受益于 HORIBA的X射线荧光技术的应用包括法医学、地质学、材料、生物学/医学、电子学、考古学、发动机磨损分析、制药和 RoHS/ELV 合规性测试。

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