
| Nombre del producto | Analizador en continuo de partículas mediante fluorescencia de rayos X |
|---|---|
| Modelo | PX-375 |
| Objeto de medición | Material particulado (PM10, PM2.5, TSP) |
| Contenido de la medición | Concentración de masa de partículas y concentración de elementos |
Común
| Caudal | 16,7 L/min |
|---|---|
| Bomba de muestreo | Sistema de accionamiento lineal, instalado externamente |
| Cinta de filtro | Filtro de tela sin tejido de PTFE |
| Intervalo de puntos en cinta | 20 / 25 / 50 / 100 mm seleccionable |
| Intervalo de sustitución de la cinta filtrante | Aprox. 5 meses (en caso de intervalo de punto de 20 mm, tiempo de muestreo de 1 hora) |
| Temperatura ambiente de funcionamiento | 10˚C ~ 30˚C |
| Humedad relativa | 0~80 % HR sin condensación |
| Altitud | 1000m o menos |
| Fuente de alimentación | CA 100 V ~ 240 V ±10 %, 50/60 Hz ±1 % |
| Consumo de energía | Aprox. 400 VA |
| Dimensión externa | 430 mm (ancho) × 550 mm (profundidad) × 285 mm (alto) (sin tubo de muestreo ni cabezal de medición) |
| Peso | Aprox. 49 kg |
| Salida de datos | Archivo CSV (masa promedio de PM y concentración elemental) |
| Conexión externa | Ethernet TM, USB, RS-232C* (opcional) |
*Consultar sobre la comunicación y composición del instrumento por separado.
Unidad analizadora de masas
| Método de medición | Atenuación de rayos beta |
|---|---|
| PM 10 | US EPA en rejilla PM10 |
| PM 2.5 | Ciclón BGI VSCC TM |
| CUCHARADITA | Entrada TSP |
| Rango de medición | 0~200/500/1000 μg/ m3 |
| Repetibilidad | ±2% (en comparación con el valor de referencia de la lámina) |
| Deriva de span | ±3 % (24 horas) |
| Límite de detección más bajo (2σ) | ±4 μg/ m3 (24 h) |
| Ciclo de muestreo y medición | 0,5 / 1 / 2 / 3 / 4 / 6 / 8 / 12 / 24 horas |
Unidad analizadora de elementos
| Método de medición | Espectrometría de fluorescencia de rayos X con energía dispersiva |
|---|---|
| Elementos detectables | Consulte la Tabla 1 "Elementos detectables". 32 parámetros estándar: Al, Si, S, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Pb, Ga, Ge, Y, Pd, Ag, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ce, Bi |
| Filtro primario de rayos X | Conmutación automática entre metales ligeros y pesados |
| Voltaje del tubo | Conmutación automática para 15 kV/50 kV |
| Detector | SDD (Detector deriva de silicio) |
| Imagen de muestra | Cámara CMOS |
| Límite de detección más bajo (2σ) | Consulte la Tabla 2 "Límite de detección más bajo (ejemplo)" |
| Rango de medición | Depende del tiempo de medición |
| Tiempo de análisis | 100 / 200 / 500 / 1000 / 2000 / 5000 / 10000s seleccionables |
| Material de calibración para intensidad de rayos X por parámetro estándar | NIST SRM 2783, otros materiales (opcional) |
| Funciones de seguridad para rayos X | Sistema de bloqueo interno Interruptor de llave Luz indicadora de rayos X |
Partículas negras
| Método de medición | Espectrometría de fluorescencia de rayos X con energía dispersiva |
|---|---|
| Objeto de medición | Partículas de color negro |
| Detector | Cámara CMOS |
| Fuente de luz | LED |
| Rango de medición BP | 0-200 |
| Límite de detección más bajo | <5 valor BP |
| Deriva de span | Valor de BP: ±2% (24 h) |
| Intervalo de puntos en cinta | Sólo 25 mm |
| Ciclo de muestreo | Siga la configuración de medición de masa y elemento. |
| Repetibilidad | ±2 % de fondo de escala (típico), ±3 % de fondo escala (máximo) |
| Material de calibración | Filtro de densidad neutra |





