Plage d'analyse dynamique
Soufre : 0,7 ppm - 10,0 % en poids
Chlore : 0,6 ppm - 10,0 % en poids
• Réglage automatique pour les courbes étendues.
• Aucun gaz de purge n'est requis.
• Maximum 60 courbes d'étalonnage et 300 points de données par courbe.
• Les courbes d'étalonnage peuvent être modifiées après leur enregistrement.
• Durées de mesure de 30 à 999 secondes.
• Répétitions de mesure de 1 à 99 fois.
• Fonction de correction de l'oxygène élimine les interférences susceptibles d'affecter les mesures de soufre.
• Différents types d’échantillons* [solides, liquides, poudres, pâtes, granulés et films] peuvent être mesurés.
• Peut programmer jusqu'à 20 comptes Administrateur et Utilisateur.
• Fenêtre Kapton remplaçable par l'utilisateur.
• Réglage micrométrique de l'angle du cristal de graphite pour une meilleure sensibilité.
• Un PC autonome permettant les mises à jour logicielles par voie électroniques.
• Dispositifs de verrouillage intégrés pour protéger l'utilisateur final des rayons X.
• Détecteur à dérive de silicium/fenêtre en béryllium pour rayons X.
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