Quantum™

Multitâche et multilingue, le logiciel Quantum permet d'accéder facilement à toutes les fonctionnalités de l'instrument (contrôle du fonctionnement poly et mono, gestion du mode pulsé Polyscan™ breveté, etc.). Quantum peut être utilisé pour le traitement des données sur d'autres ordinateurs en mode émulation pendant la prise de mesures avec l'instrument.

Traitement des données puissant et flexible avec les fonctionnalités uniques Time Plus pour augmenter le temps d'analyse pendant la mesure et UFS (Ultra Fast Sputtering) pour améliorer l'érosion des polymères et la mesure avec plusieurs fréquences d'acquisition. Affichage en temps réel de l'acquisition, options de traitement ultra rapide (y compris lissage multiple), détermination automatique des interfaces, calcul des tendances et exportation des résultats sous forme d'images ou de fichiers .ascii ou .xls pour la création de rapports flexibles.

Création et utilisation de tâches d'analyse pour appliquer des traitements similaires à plusieurs résultats à des fins de superposition et de comparaison.
Enregistrement de toutes les données brutes permettant un retraitement flexible, possibilité d'afficher l'ensemble de la mesure du profil de profondeur à partir d'un résultat global, d'utiliser des échantillons stratifiés dans n'importe quel programme ou d'appliquer des programmes globaux pour les mesures de surface et des programmes de profil de profondeur pour les analyses globales.

IQ

Modèles IQ (Intelligent Quantification) intégrant le mode de vitesse de pulvérisation conforme à la norme ISO et le nouveau mode de couche pour les matériaux avancés. Mesure des concentrations (en % at, % m selon la profondeur, poids des revêtements, épaisseur des couches). Profils de cratères 2D/3D associés.

Image

Lorsque le monochromateur est utilisé en mode balayage (avec une mesure à chaque picomètre), le spectre d'émission complet d'un matériau peut être enregistré avec la résolution optique maximale sans saturation grâce à la détection HDD. C'est ce qu'on appelle l'« image ».
L'acquisition complète des échantillons globaux et des couches épaisses (ou même des couches plus fines en mode pulsé) s'effectue en 2 minutes. Les matériaux peuvent être comparés grâce à leurs « images », et une base de données de longueurs d'onde permet d'identifier les éléments présents.