Lorsque le soufre élémentaire (S8) est soumis à une puissance laser élevée, il subit une combustion et une fusion/vaporisation importantes. Dans cet exemple, une particule isolée sur une lame de quartz a été frappée par un laser de 90 mW à 532 nm, focalisé sur un point de 5 µm. La projection de soufre qui en résulte est illustrée sur l'image optique de droite.
L'imagerie Raman ultra-rapide SWIFT™ ultérieure (avec une faible puissance laser) permet d'imager chimiquement le soufre (à gauche) et d'illustrer la présence de trois composants, chacun doté d'un spectre Raman distinct. Ces spectres distincts sont dus aux changements de phase du soufre provoqués par le chauffage, la fusion et la solidification induits par laser.
L'image Raman a été acquise en moins de 4 minutes avec un temps d'acquisition de seulement 5 ms par point.