Images topographiques AFM (en haut à gauche) et Raman (en haut à droite) colocalisées de nanotubes de carbone développés sur un substrat de silicium cristallin. Les images ont été acquises sur une surface de 10 µm x 10 µm, avec un pas de 250 nm pour la carte Raman.
Le spectre (en bas) montre la région des bandes de carbone D et G, illustrant les différences claires entre le nanotube de haute qualité (rouge) et le matériau désordonné (vert).