Une section de granit poli a été analysée par Raman et micro-XRF. L'image Raman du haut, acquise à 2 s par point, montre la distribution de FeS (rouge), SiO2 (vert) et (K,Na)AlSi3O2 (bleu).
En bas à gauche, une image SWIFT™ ultra-rapide est présentée, acquise en 10 ms sur la partie centrale de l'image originale. La même zone a été imagée (à droite) avec l'analyseur micro-XRF XGT-7000, avec un faisceau de rayons X de 10 µm et une acquisition de 3 ms par point. L'image XRF révèle la présence des éléments Fe et S (rouge), Si (vert) et K (bleu).
Nous remercions chaleureusement le Dr George J. Havrilla (Laboratoire national de Los Alamos, États-Unis) pour la fourniture de ces données. Le traitement des données a été réalisé avec l'aimable collaboration de Jeremy Shaver (Eigenvector Research Inc., États-Unis).