L'imagerie Raman ultra-rapide SWIFT™ d'une plaquette de silicium permet de distinguer la structure cristalline du matériau semi-conducteur. Dans cet exemple, l'image montre la distribution des régions cristallines, polycristallines et nanocristallines du silicium. L'image Raman est superposée à l'image optique de l'échantillon.