Imagerie Raman SWIFT™ ultra-rapide haute résolution d'une puce de silicium gravée sur une surface de 1 mm2. L'image illustre la présence de silicium cristallin (rouge), de silicium sous contrainte (jaune) et de silicium amorphe (vert). Les zones bleues correspondent à un revêtement métallique sur la puce, ce qui entraîne un signal Raman nul.
Avec plus d'un million de points de données dans l'image, ces données mettent en évidence les nouvelles capacités de l'imagerie Raman ultrarapide, notamment la possibilité d'acquérir des relevés de grande surface et des images submicroniques haute résolution dans un seul jeu de données. L'image de gauche montre la zone complète de 1 mm2, tandis que celle de droite illustre l'imagerie détaillée rendue possible par un zoom sur la zone indiquée. Il est à noter que les deux images proviennent d'un seul jeu de données expérimentales.