L'imagerie Raman ultra-rapide SWIFT™ a été utilisée pour caractériser une grande structure de diamant synthétique (environ 3 mm x 3 mm). Les images ci-dessus montrent la variation de l'amplitude (en haut à gauche), de la largeur (en haut à droite) et de la position (en bas) du pic du diamant.
Échantillon fourni avec l'aimable autorisation de l'Institut LIST, CEA, Saclay, France